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文檔簡介
1、離子束分析技術(shù)是一種常規(guī)的材料表面分析的工具,具有無損、簡便、精確等優(yōu)點。包括彈性背散射分析、前向彈性反沖分析和核反應(yīng)分析。
本論文主要采用彈性背散射方法(EBS)和前向彈性反沖探測法(ERD)。
分別在背散射角155°、165°處,采用Ti吸氘、氚的薄靶,對能量從1.4到3.4MeV的質(zhì)子的非盧瑟福彈性背散射截面D(P,P)D、T(P,P)T進行了測量。質(zhì)子束由9SDH-2型2×3MV串列加速器提供,測量儀
2、器采用金硅面壘探測能譜儀。實驗誤差小于7.5％,將部分測量結(jié)果與前人發(fā)表的結(jié)果進行了比較,符合得較好。
用2.4～7.4MeV的-4He離子束轟擊Ti-D、Ti-T樣品,測量了在前向30°方向上的D(4He,D)4He、T(4He,T)4He的ERD截面。實驗結(jié)果分別以列表形式和激發(fā)曲線形式給出,誤差小于8％。所測量的數(shù)據(jù)可供從事離子束分析技術(shù)的有關(guān)人員參考。
最后,論文介紹了非盧瑟福背散射截面值的典型應(yīng)用,
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