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文檔簡介
1、本論文是圍繞國家重大項目,結(jié)合高功率激光裝黃需求的基礎(chǔ)上,對光束控制元件的設(shè)計、應(yīng)用和測試等方面進(jìn)行了系統(tǒng)性的論述,主要研究內(nèi)容及獲得的成果如下: 一、大規(guī)模點陣的并行計算方法隨著裝置對光束控制元件DOE的尺寸需求越來越大,也就意味著設(shè)計上需要更多的采樣點陣以保證滿足采樣定理同時擴(kuò)大合適的輸出計算窗口。然而單機(jī)在點陣成倍擴(kuò)大時,計算能力不足的劣勢凸現(xiàn),內(nèi)存以及時間都成為瓶頸。本論文利用MPI(Message Passing In
2、terface)并行程序語言,開發(fā)了適用于DOE設(shè)計的并行計算方法。使用課題組的小型并行計算平臺,計算時間上相比于單機(jī)大大縮短,可以滿足今后大尺寸DOE器件的設(shè)計時間要求。 二、平面靶的差值反饋優(yōu)化算法當(dāng)前針對光束整形的衍射光學(xué)元件的設(shè)計中,均需要采取模擬退火算法(SA)做進(jìn)一步優(yōu)化已得到更好的輸出光斑。然而由于SA的隨機(jī)性,所需的搜索時間很長,相比于光斑均勻性的提高量,性價比很低。差值反饋優(yōu)化算法克服了SA的隨機(jī)性,它通過一定
3、的數(shù)學(xué)近似,將實際輸出與理想輸出的差值反饋到輸入的位相結(jié)構(gòu)上,進(jìn)行相應(yīng)調(diào)整,從而可以在很短的時間內(nèi)收斂到一個更優(yōu)的位相結(jié)構(gòu),極大的縮短了元件的設(shè)計周期。同時,根據(jù)該算法的數(shù)學(xué)推導(dǎo)過程,對于任何線形系統(tǒng),只要選取相應(yīng)的差值,均可使用該算法對已有的較優(yōu)解來做進(jìn)一步優(yōu)化。 三、多目標(biāo)面迭代算法實現(xiàn)焦點附近3維空間束勻滑傳統(tǒng)DOE設(shè)計的目標(biāo)輸出面都只是單獨(dú)的2維平面,偏離目標(biāo)設(shè)計面的光斑均勻性明顯變差;另一方面間接驅(qū)動的目標(biāo)輸出面并非垂
4、直于光軸而是與之有一定夾角。因此這兩方面都對焦點附近3維空間提出了束勻滑的要求。本論文通過離散化3維空間,設(shè)置不同的接收反饋因子,展開遞歸搜索等方式,開發(fā)實現(xiàn)了多平面迭代算法。該算法的設(shè)計結(jié)果與傳統(tǒng)設(shè)計結(jié)果的對比表明,在焦點附近約0.2mm的空間里,光束的均勻性和衍射效率都得到了不錯的保持,從而提高了現(xiàn)有的空間設(shè)計指標(biāo),增強(qiáng)了器件的適應(yīng)性。 四、正面到斜面的可逆?zhèn)鬏攲崿F(xiàn)間接ICF束勻滑在間接ICF的小焦斑進(jìn)洞的工程模型中,其腔口
5、平面相對于光軸是一個斜面,工程要求在腔口上實現(xiàn)圓型光斑的注入,并且盡可能壓低其余旁瓣使得不燒蝕腔口端面以順利進(jìn)洞,反映到DOE設(shè)計中,就是一個斜面設(shè)計以及消旁瓣的問題。本文首先研究了幾種正面到斜面的傳輸方法,并根據(jù)Fourier空間內(nèi)波矢的旋轉(zhuǎn)變換,綜合出了可逆的譜旋轉(zhuǎn)方法,解決了正面到斜面的可逆?zhèn)鬏攩栴}。然后利用該方法,開發(fā)了消旁瓣的設(shè)計方法。大點陣的設(shè)計結(jié)果表明,可以注入大部分激光能量到靶腔中,并且所需壓制旁瓣區(qū)域的功率密度很低,設(shè)
6、計上滿足了工程需求。 五、口徑縮放以及中心漂移的設(shè)計算法提高DOE的口徑寬容性無論是平面靶還是間接靶的DOE設(shè)計,都不得不考慮口徑影響,這源于實際打靶中,照射到DOE器件上的光束口徑有一定量的縮放,且還會偏離中心少許;而理論設(shè)計上均假定入射光束口徑不變并且固定在中心,導(dǎo)致實測結(jié)果與設(shè)計偏差較大。本文對此作了相應(yīng)研究,并將口徑的變化直接納入到DOE的迭代設(shè)計中,利用隨機(jī)入射口徑的方式來使得DOE元件對口徑在給定范圍內(nèi)變化的入射光均
7、具有較好的輸出光斑。設(shè)計結(jié)果表明,對于任何在DOE有效位相單元內(nèi)的入射光都能得到一個較好的平均結(jié)果,包括光斑德均勻性指標(biāo)和所需壓制旁瓣區(qū)域的功率密度。從而大幅提高了DOE的口徑寬容性。 六、320mm口徑DOE器件的打靶測試,改進(jìn)和應(yīng)用前景由分步迭代算法設(shè)計制作的320mm有效口徑的DOE器件,進(jìn)行了實驗打靶測試,實測結(jié)果與設(shè)計指標(biāo)偏離較大:中心亮點較大,旁瓣較高,衍射效率太低。經(jīng)計算分析,設(shè)計口徑與實驗口徑相差較大以及DOE單
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