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文檔簡(jiǎn)介
1、為了滿足超導(dǎo)磁體的穩(wěn)定運(yùn)行和失超保護(hù)的要求,本文進(jìn)行了高溫超導(dǎo)帶材失超傳播特性的實(shí)驗(yàn)研究。目標(biāo)是針對(duì)超導(dǎo)磁體中各種工作情況得到高溫超導(dǎo)帶材的最小失超能和失超傳播速度,有助于超導(dǎo)磁體的失超保護(hù)設(shè)計(jì)。
本文在給出課題的研究背景和意義的基礎(chǔ)上,首先介紹了高溫超導(dǎo)帶材失超傳播特性測(cè)試系統(tǒng),包括兩個(gè)部分,第一部分為臨界電流測(cè)試系統(tǒng),其作用是測(cè)量待測(cè)帶材的臨界電流,確定失超傳播實(shí)驗(yàn)的傳輸電流。第二部分為失超傳播特性測(cè)試系統(tǒng),其作用是測(cè)量高
2、溫超導(dǎo)帶材的最小失超能和失超傳播速度。通過實(shí)驗(yàn)研究了高溫超導(dǎo)帶材的失超傳播特性,分別利用電壓和溫度判據(jù)來表征帶材的失超傳播速度,比較分析了YBCO帶材和Bi2223帶材的最小失超能和失超傳播速度的差異,為實(shí)驗(yàn)室超導(dǎo)磁體繞組的材料選擇提供參考。
然后對(duì)超導(dǎo)磁體工作時(shí)可能存在的三種情況分別對(duì)YBCO帶材和Bi2223帶材進(jìn)行了失超傳播特性實(shí)驗(yàn)研究。這三種情況分別為帶材本身的內(nèi)部缺陷,局部磁場(chǎng)差異以及焊接接頭的存在。
首先
3、在高溫超導(dǎo)帶材內(nèi)部不可避免的存在內(nèi)部缺陷,本文實(shí)驗(yàn)研究了彎曲恢復(fù)后對(duì)高溫超導(dǎo)帶材臨界電流的影響,確定滿足實(shí)驗(yàn)條件的彎曲應(yīng)變。通過彎曲應(yīng)變對(duì)高溫超導(dǎo)帶材引入內(nèi)部缺陷,實(shí)驗(yàn)研究并分析了內(nèi)部缺陷對(duì)兩種帶材失超傳播特性的影響,掌握了失超傳播特性的變化規(guī)律。
然后通過ANSYS仿真分析了高溫超導(dǎo)磁體的磁場(chǎng)分布,發(fā)現(xiàn)磁體內(nèi)部的磁場(chǎng)存在分布不均勻的現(xiàn)象。實(shí)驗(yàn)研究并分析了局部磁場(chǎng)差異對(duì)兩種帶材失超傳播特性的影響,得到了失超傳播特性與磁場(chǎng)之間的
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