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1、國(guó)內(nèi)圖書分類號(hào):O34學(xué)校代碼:10213國(guó)際圖書分類號(hào):531密級(jí):公開(kāi)工程碩士學(xué)位論文碩士學(xué)位論文導(dǎo)線焊點(diǎn)界面中間相中的空洞生長(zhǎng)問(wèn)題模擬和分析碩士研究生:王潔導(dǎo)師:周鵬副教授申請(qǐng)學(xué)位:工程碩士學(xué)科:航天工程所在單位:航天科學(xué)與力學(xué)系答辯日期:2015年6月授予學(xué)位單位:哈爾濱工業(yè)大學(xué)摘要I摘要隨著電子產(chǎn)品的微型化發(fā)展及性能要求的大幅提高,焊點(diǎn)的體積不斷減小,其可靠性也受到了越來(lái)越多的關(guān)注。由于焊點(diǎn)的可靠性受到了多種因素的影響,其中一
2、個(gè)重要因素就是導(dǎo)線焊點(diǎn)界面中間相中空洞的生長(zhǎng)和合并,因此研究空洞的生長(zhǎng)和形態(tài)變化對(duì)于提高焊點(diǎn)的可靠性、延長(zhǎng)電子產(chǎn)品的使用壽命具有重要意義??斩吹男螒B(tài)及其演化與空洞的總界面能、通過(guò)焊點(diǎn)的電流密度、焊點(diǎn)上的應(yīng)力狀態(tài)等有關(guān)。目前已有的有關(guān)空洞生長(zhǎng)和演化的研究成果中,考慮了界面能的作用,但是沒(méi)有考慮電流場(chǎng)以及彈性應(yīng)力場(chǎng)對(duì)空洞生長(zhǎng)和形狀變化的影響。由于焊點(diǎn)在工作狀態(tài)下通常都會(huì)受到電流場(chǎng)以及彈性應(yīng)力場(chǎng)的作用,因此為了更精確地模擬導(dǎo)線焊點(diǎn)界面中間相中
3、空洞的合并及其形態(tài)變化,本文在以前的工作中加入了電流場(chǎng)以及應(yīng)力場(chǎng)的作用,使用建立的擴(kuò)散界面模型,通過(guò)在模型的邊界上施加電流場(chǎng)及應(yīng)力場(chǎng),以此研究空洞的生長(zhǎng)和合并狀況,模擬結(jié)果證明:(1)在模型邊界不施加外場(chǎng),只考慮界面能的影響時(shí),模擬結(jié)果表明,在界面能的影響下,導(dǎo)線焊點(diǎn)界面中間相中的空洞之間會(huì)發(fā)生相互合并,并且空洞合并的速度會(huì)隨著時(shí)間的增加而變慢。這是由于在焊點(diǎn)形成的初級(jí)階段,空洞的總界面能相對(duì)較大,因此空洞合并的速度較快,隨著空洞的不斷
4、合并,空洞的總界面能不斷減小,其對(duì)空洞的影響作用也變小,因此空洞的合并速度逐漸減慢。(2)在模型的邊界上施加拉應(yīng)力時(shí),模擬結(jié)果表明,拉應(yīng)力作用下的空洞合并的速度明顯加快,并且在空洞合并初期,由于界面能較大,此時(shí)它對(duì)空洞形態(tài)的變化起主要作用,隨著空洞的合并,表面能不斷減小,應(yīng)力場(chǎng)的作用逐漸突出,繼續(xù)加速空洞的合并過(guò)程,并且使空洞形狀沿水平方向拉長(zhǎng),近似于橢圓形。(3)在模型的邊界上施加切應(yīng)力時(shí),模擬結(jié)果表明,在空洞合并的初級(jí)階段,空洞的形
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