密集環(huán)境下超高頻RFID系統(tǒng)關(guān)鍵問題研究.pdf

1、隨著物聯(lián)網(wǎng)技術(shù)的飛速發(fā)展，RFID技術(shù)不斷成熟，越來越多的生產(chǎn)、生活場景開始應(yīng)用RFID技術(shù)。由于RFID系統(tǒng)應(yīng)用環(huán)境的密集化、復(fù)雜化，越來越多的RFID系統(tǒng)需要大量布放閱讀器及標(biāo)簽。傳統(tǒng)的測試方法已經(jīng)無法滿足密集環(huán)境RFID測試的需要，因此，需要提出新的密集環(huán)境下的RFID測試新方法及指標(biāo)參數(shù)。
　　本文的主要研究內(nèi)容如下:
　　第一，對(duì)RFID系統(tǒng)下存在的標(biāo)簽防碰撞問題和閱讀器防碰撞問題進(jìn)行了研究，并分析了碰撞發(fā)生的原因

2、。對(duì)超高頻RFID系統(tǒng)性能指標(biāo)進(jìn)行了分析。
　　第二，現(xiàn)有的標(biāo)簽防碰撞算法指標(biāo)大都是基于吞吐率的，但是由于吞吐率的計(jì)算忽略了實(shí)際的通信鏈路中各個(gè)時(shí)隙的真實(shí)長度，因此吞吐率并不能很好地衡量實(shí)際RFID應(yīng)用系統(tǒng)的工作效率。本文提出了一種基于識(shí)別速率的標(biāo)簽防碰撞性能指標(biāo)，該指標(biāo)基于真實(shí)的通信鏈路時(shí)間，更接近真實(shí)的使用場景，具有實(shí)際的指導(dǎo)意義。
　　第三，提出了一種新的閱讀器防碰撞性能測試方法，完成了現(xiàn)場測試環(huán)境的搭建。對(duì)采集到的閱