光學(xué)綜合孔徑陣列的優(yōu)化研究.pdf

1、　　光學(xué)綜合孔徑成像技術(shù)是高分辨率光學(xué)成像技術(shù)方法之一，它實(shí)現(xiàn)并應(yīng)用于天文觀測研究。光學(xué)綜合孔徑陣列的優(yōu)化在光學(xué)綜合孔徑成像技術(shù)中起著至關(guān)重要的作用。本文的主要工作就是對光學(xué)綜合孔徑陣列進(jìn)行優(yōu)化。本文在綜述了國內(nèi)外光學(xué)綜合孔徑成像技術(shù)的發(fā)展基礎(chǔ)上，介紹了光學(xué)綜合孔徑干涉成像技術(shù)所用到的uv覆蓋、閉合相位和圖像重構(gòu)三個(gè)關(guān)鍵技術(shù)及子孔徑排列的原理。重點(diǎn)對子孔徑陣列進(jìn)行了詳細(xì)研究，提出了直線陣列的優(yōu)化方案，求出了子孔徑數(shù)目不大于9個(gè)的有缺失小

2、冗余的陣列和無缺失的陣列。為了對提出的孔徑陣列的優(yōu)化效果進(jìn)行評(píng)價(jià)，本文采用了一種新的利用采樣頻譜圖分析的評(píng)價(jià)方法，著重對直線陣列的優(yōu)化結(jié)果進(jìn)行了分析，以四個(gè)孔徑為例，對直線陣列的成像結(jié)果進(jìn)行了計(jì)算機(jī)模擬，得到干涉圖以及干涉頻譜圖，并用干涉圖的信息熵對直線陣列性能做了定量分析。通過對不同參數(shù)條件下的兩孔徑干涉實(shí)驗(yàn)結(jié)果的分析，確定了實(shí)驗(yàn)室中直線陣列孔徑半徑大小，并對四個(gè)孔徑的直線陣列進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，本文采用的孔徑陣列的優(yōu)化判斷方法