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文檔簡介
1、微小顆粒的尺寸測量有理論和實踐意義。利用光散射技術(shù)測量粒徑分布,以其眾多優(yōu)點在小顆粒測量領(lǐng)域得到廣泛重視,是最先進的、最具廣泛發(fā)展前景的測量方法。事實上,現(xiàn)有的幾十種粒度儀都是如此。 1908年,德國科學(xué)家GustavMie(米氏)用經(jīng)典波動光學(xué)理論的麥克斯韋方程組,加上適當?shù)倪吔鐥l件,解出了任意直徑,任意成分的均勻球型粒子的散射光強角分布的嚴格數(shù)學(xué)解。目前各種光散射測粒技術(shù)的基本原理主要就是基于Mie散射理論及其近似結(jié)論。
2、 我們在基于Mie氏理論的光散射粒徑測量方面做了理論、數(shù)值計算和實驗研究,具體內(nèi)容如下: ●充分調(diào)研并掌握了目前國內(nèi)外激光粒度儀的測量原理、發(fā)展現(xiàn)狀和相關(guān)產(chǎn)品信息。 ●學(xué)習(xí)了Mie氏散射理論,詳細推導(dǎo)了Mie氏理論的數(shù)值計算方法。對單分散體系和RR分布下的多分散體系的散射光強角分布曲線等作了大量計算機模擬計算。 ●對任意多分散體系,我們用獨立算法——單純形調(diào)優(yōu)法——進行編程計算,分析了該算法的各種參數(shù)對計算結(jié)
3、果的影響。結(jié)果發(fā)現(xiàn),這種方法耗時多且準確性差,并不是一個好方法。 ●受參數(shù)算法Phillips-Twomey法的啟發(fā),我們采用矩陣變換技巧,對RR分布,成功模擬了由散射光強角分布反求散射微粒粒徑分布。該方法可以推廣到任意雙參數(shù)分布計算。 ●在實驗方面,與前人工作不同,我們使用一維CCD探測器和一個便攜式532nm固態(tài)激光器替代傳統(tǒng)的半環(huán)型半導(dǎo)體光電探測器和較大尺寸的He-Ne激光器,使得整個結(jié)構(gòu)變得緊湊。 ●利用
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