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文檔簡介
1、自旋電子學(xué)器件因比傳統(tǒng)微電子學(xué)器件數(shù)據(jù)儲存能力更大、信息處理速度更快、耗能更低等優(yōu)勢得以迅速發(fā)展。應(yīng)用于自旋電子學(xué)的材料,需要具有較高的電子極化率,因此在理論上具有100%自旋極化率的半金屬材料在這一領(lǐng)域有很大的應(yīng)用前景。
目前,已被理論預(yù)測或?qū)嶒炞C實的半金屬材料很多,其中Heusler合金因與半導(dǎo)體晶格失配率較小且具有高于室溫的居里溫度而倍受研究者們關(guān)注。然而大量實驗表明, Heusler合金在實際制備過程中往往會受到溫度、
2、成分比例等制備環(huán)境的影響發(fā)生原子無序、結(jié)構(gòu)缺陷等,導(dǎo)致其半金屬帶隙變窄、費米能級微移等,使得并不能在實際制備的Heusler合金中檢測到理論上預(yù)測的100%自旋極化率。此外,部分理論上已顯示通過摻雜適當(dāng)比例的雜質(zhì)元素可改變Heusler合金的能隙寬度以及費米面所處的位置,而實驗上也證實適當(dāng)?shù)膿诫s可提高Heusler合金的自旋極化,因而摻雜極有可能被作為一種發(fā)展具有良好性能的半金屬鐵磁材料的有效途徑。
自從Cr2CoGa合金被應(yīng)
3、用于異質(zhì)結(jié)以來,半金屬 inverse Heusler合金也愈發(fā)受到研究者們的青睞。在對Ti基inverse Heusler合金進行研究時,Ti2NiAl和Ti2CoSi合金均被預(yù)測到具有半金屬性,然而在分析它們的能帶結(jié)構(gòu)時發(fā)現(xiàn)Ti2NiAl的費米面處于自旋向下子能帶帶隙的底部而Ti2CoSi的費米面卻處于帶隙頂部,半金屬性均易受原子無序、結(jié)構(gòu)缺陷等的影響使得自旋極化率降低。因此,本文基于第一性原理,分別對inverse Heusler
4、合金Ti2NiAl的Ni位和Al位進行Co、Si原子單摻和共摻來進一步穩(wěn)定其半金屬性,同時也探究了摻雜體系的電子結(jié)構(gòu)和磁性質(zhì)。
主要研究結(jié)果如下:
1. Co/Si單摻和Co+Si共摻Ti2NiAl體系的晶格常數(shù)隨摻雜濃度的增加呈線性減小,與Vegard原理符合得很好。體系的磁矩隨著Co濃度的增加而減小,隨Si濃度的增加而增大,且當(dāng)體系保留有半金屬性質(zhì)時,這種變化遵循Slater-Pauling原理。
2.
5、通過對缺陷形成能的計算,發(fā)現(xiàn)Co+Si共摻體系的缺陷形成能大多為負(fù)值,而Co/Si單摻體系的多為正值,說明陰陽離子共摻普遍比單離子摻雜的形成能低,也更容易形成。
3.對于Co/Si單摻體系,隨著Co濃度的升高,體系的費米能級逐漸向高能區(qū)移動并一直處于自旋向下子能帶帶隙中;而隨著Si濃度的升高半金屬帶隙迅速變窄,甚至在高摻雜濃度下自旋向下子能帶穿過費米面導(dǎo)致半金屬性喪失。而對于Co+Si共摻體系,大多的化合物都具有更寬的半金屬帶
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