合肥光源(HLSⅡ)儲存環(huán)束流損失監(jiān)測系統(tǒng)的研究.pdf

1、電子儲存環(huán)中束流損失的電子與真空室壁撞擊的過程會產(chǎn)生簇射電子，束流損失監(jiān)測系統(tǒng)通過對它們的探測可以獲得束流損失的數(shù)量及位置等信息。該系統(tǒng)可以在儲存環(huán)調(diào)機(jī)、運(yùn)行狀態(tài)的監(jiān)測以及束流壽命研究等方面發(fā)揮重要的作用。合肥光源HLS正在升級至HLSⅡ。HLSⅡ儲存環(huán)的束流損失狀況與升級前的具有很大的不同，為了實(shí)現(xiàn)更高的光源亮度，HLSⅡ的束流發(fā)射度要比之前的小很多，從而造成托歇克效應(yīng)顯著增強(qiáng)，并使之成為導(dǎo)致束流損失的主要因素。因此需要為新的儲存環(huán)設(shè)

2、計(jì)一套新的束流損失監(jiān)測系統(tǒng)。
　　本論文對損失電子在儲存環(huán)真空室不同側(cè)面的分布特點(diǎn)進(jìn)行了分析，對新的儲存環(huán)的一些Lattice結(jié)構(gòu)進(jìn)行了研究，并對束流損失監(jiān)測點(diǎn)的選擇方法進(jìn)行了討論。在綜合這些分析的基礎(chǔ)上，為HLSⅡ提出了一套新的束流損失監(jiān)測方案。
　　由于束流損失監(jiān)測系統(tǒng)是通過真空室外的簇射電子來間接實(shí)現(xiàn)對束流損失的監(jiān)測，因此對于簇射電子和損失的電子之間的關(guān)系進(jìn)行研究是非常必要的。本文通過Monte-Carlo輸運(yùn)軟件EG

3、Snrc對損失的電子與真空室壁的碰撞過程進(jìn)行了模擬計(jì)算，對簇射電子在真空室外的分布進(jìn)行了研究;同時還對不同側(cè)面上的損失的電子對某一個側(cè)面上簇射電子探測存在的影響進(jìn)行了探討。這些工作將為HLSⅡ束流損失監(jiān)測系統(tǒng)探測器安裝位置的調(diào)整以及后續(xù)的數(shù)據(jù)處理提供有用的參考。
　　此外，論文還對探測器的選擇，數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的技術(shù)方案的制定進(jìn)行了探討。提出了選用雙PIN光電二極管作為探測器，并采用以太網(wǎng)作為組網(wǎng)方式搭建了一個包括上位機(jī)和數(shù)據(jù)采集器的