射線檢測(cè)試題

1、第二部分射線檢測(cè)一、正誤判斷題（在括弧內(nèi)，正確的畫○，錯(cuò)誤的畫）1高速運(yùn)動(dòng)的電子同靶原子核的庫(kù)侖場(chǎng)作用，電子失去其能量以光子形式輻射出來(lái)，這種輻射稱韌致輻射?！础稹?※.線質(zhì)是對(duì)射線穿透物質(zhì)能力的度量，穿透力較強(qiáng)的射線稱其線質(zhì)較軟，穿透力較弱的射線稱其線質(zhì)較硬。（）3、高速運(yùn)動(dòng)的電子同靶原子的軌道電子碰撞時(shí)，有可能將原子內(nèi)層的一個(gè)電子擊到未被電子填充的外層軌道上，其外層的電子向內(nèi)層躍遷，以光子的形式輻射出多余的能置，這就產(chǎn)生了標(biāo)識(shí)射線。

2、4、康普頓散射不是由軌道電子引起的，而主要是光于同固體內(nèi)的自由電子相互作用引起的。5、X、γ射線是電磁輻射；中子射線是粒子輻射。（○）6※、具有連續(xù)光譜的x射線，稱連續(xù)x射線，又稱白色x射線。7※、由發(fā)射x射線的材料特征決定波長(zhǎng)的連續(xù)Ⅹ射線，稱標(biāo)識(shí)x射線，又稱特征x射線（）8、一定能量的連續(xù)x射線穿透物質(zhì)時(shí)，隨厚度的增加射線的總強(qiáng)度減小，平均波長(zhǎng)變短，但最短波長(zhǎng)不變。（○）9※、加在x光管兩端的電壓越低，則電子的速度就越大，輻射出的射線

3、能量就越高?！础?0※、射線的線質(zhì)越軟，其光子能墨越大，波長(zhǎng)越短，笄透力越強(qiáng)，衰減系數(shù)越小，半價(jià)層越大。（）11Y射線的能盤取決于放射性同位苯的活度或居里效，而它的強(qiáng)度取決于源的種類。（）12※、射線的能量減弱到初始值上半時(shí)所穿過物質(zhì)的厚度，稱半價(jià)層，又稱半值層。（）13※、放射性同位紊的能搔蛻變至其原值一半所需時(shí)間，稱半衰期。（）14※、描述放射性物質(zhì)不穩(wěn)定程度的量稱為“活度”。（○）15、在核反應(yīng)堆中，把一種元素變?yōu)榉派湫栽氐倪^程

4、，稱為激活。（○）16v當(dāng)原子核內(nèi)質(zhì)子數(shù)不變，而原子量增加時(shí)，它就變戚另一種元素。（）17※、不穩(wěn)定的同位素，稱為放射性同位素。（○）18※、光子是以光速傳播的微小的物質(zhì)粒子。（）19、光電效應(yīng)巾光子故部分吸收，而康普頓效應(yīng)中光子被完全吸收。（）20※、發(fā)生康普頓效贓時(shí)，電子獲得光子的部分能墨以反沖電子的形式射出♂同時(shí)，光子的能量減小，方向也改了，成為低能散射線。21、能量為1.02～2MeV的射線與鋼鐵相互作用主要產(chǎn)生電子對(duì)效應(yīng)（）2

5、2※、用于檢測(cè)的Ⅹ射線和Y射線，它們之間的主要區(qū)別在于：x射線是韌致輻射的產(chǎn)物，而γ射線是放射性同位素原子核衰變的產(chǎn)物；x射線是連續(xù)譜，Y射線是線狀譜。（○）23※、即使管電壓相同，不同x射線機(jī)所發(fā)生的x射線的線質(zhì)也是不同的。（○）24對(duì)不同種類的放射性同位素，高活度的同位東總是比低活度的同位索具有更高的輻射水平。（）25。192Ir源經(jīng)過幾個(gè)半衰期后，將其放在核反應(yīng)堆中激活可重復(fù)使用。（）26※、與60C，o射線源相比，具有較短的半袁

6、期和較低的能孟。〈○〉27※、當(dāng)x射線通過3個(gè)半價(jià)層后，其強(qiáng)度僅為初始值的1／3。（）28※、Y射線經(jīng)過3個(gè)半衰期后，其能置僅剩下初始當(dāng)值的1／8。（）29※、所謂“吸收”，就是物質(zhì)阻止射線通過的能力。（○）30，含氫元素的物質(zhì)，對(duì)中子射線具有較強(qiáng)的衰減作用。（參考題）（○）31線吸收系較表示單位長(zhǎng)度妁相互作用幾率，質(zhì)量吸收系數(shù)則表示單位質(zhì)量的相互作用幾率。67※、減小識(shí)別界限對(duì)比度△Dmin，不利于識(shí)別小缺陷。（）68、觀片燈亮度提高

7、，識(shí)別界限對(duì)比度△Dmin減小，能分辨的黑度范圍向高黑度一邊擴(kuò)展。（○）69、在較暗的室內(nèi)評(píng)片，消除了散射光影響，底片的識(shí)別界限對(duì)比度減小，有利于分辨缺陷。（○）70、厚工件中的緊閉裂紋，透照方向適當(dāng)時(shí)，也能被檢出。（）71、射線透過有余高焊縫后到達(dá)膠片上的散射比，總大于透過厚度與焊縫相同的平板后到達(dá)膠片上的散射比。（○）72、透照厚度增大散射比增大。（○）73※、對(duì)曝光過度的膠片，為獲得符合要求的底片，可采用縮短顯影時(shí)間來(lái)補(bǔ)救。（）7

8、4※、當(dāng)顯影糟不放盞時(shí)，顯影液就會(huì)被氧化，從而降低顯影液的濃度。（○）75※、定影液有兩個(gè)作用：溶解未曝光的AgBr和堅(jiān)膜（○）76※、AgBr的顆粒度決定了膠片的性質(zhì)，顆粒度越大，膠片感光速度越快，膠片對(duì)比度越低?！穑?7※、管電壓、管電流和穿透厚度之弼關(guān)系的曲線稱膠片特性曲線。（）78、底片的顆粒度隨射線能盤的提高而增大。（O）79對(duì)視覺產(chǎn)生影響的底片影像黑度的不均勻程度，稱底片影像顆粒度。（○）80※、膠片鹵化銀粒子的平均大小，稱

9、膠片粒度。（○）81、底片影像顆粒度與膠片鹵化銀的粒度是同一概念。（）82※、透照某一厚度的材料，乘一系數(shù)，得到它相當(dāng)于多厚標(biāo)準(zhǔn)材料（通常為鋼）的吸收效果，該系數(shù)稱射線照相等效系教。這一系數(shù)隨射線能量而變化。（○）83、在x射線管窗口加濾波板的作用是增大寬容度，消除邊蝕散射。（○）84※、表征膠片曝光簋的對(duì)數(shù)與底片黑皮之間關(guān)系的曲線，稱膠片特性曲線。（○）85※、表征射線能置、透照厚度和曝光量三者關(guān)系的曲線，稱曝光曲線。（○）86※、由

10、曝光因子的公式可知，焦距增加一倍，則曝光量是原值的4倍。（○）87※、，主因?qū)Ρ榷扰c工件厚度變化引起的黑度差有關(guān)。（）88※、源移去后，被照射工件本身仍殘留低度的輻射?！础?9※、改變膠片的曝光量引起相應(yīng)底片上黑度差的固有能力稱為膠片對(duì)比度。（O）90※、能夠在射線底片上充分記錄的工件好度范圍稱為寬容度。（○）91※、任何情況下，底片的對(duì)比度越大越好。（）92對(duì)子某一種膠片，其曝光量同相應(yīng)的底片黑度之間關(guān)系的曲線稱曝光曲線。）93※、對(duì)

11、于厚度差較大的工件，在保證靈敏度要求的前提下，應(yīng)增大寬容度。、（○）94※、增大底片寬容度通常的方法是提高管電壓。（○）95、通過工件上兩個(gè)不同厚度截面的射線強(qiáng)度比率越大，工件對(duì)比度（主因?qū)Ρ榷龋┰酱?。（○?6象質(zhì)計(jì)靈敏度與缺陷檢出率是一回事。（）97、封頭的射線探傷程序應(yīng)笨排在拼焊后，熱壓成型前進(jìn)行。（）98、局部探傷的底片在界線標(biāo)記以外的缺陷不計(jì)。（）99※、顯影液是堿性的，定影液是酸性的。（○）100、一般情況下，米吐爾與對(duì)苯二