簡電法部分復(fù)習(xí)題及答案資料

1、1考試復(fù)習(xí)題：考試復(fù)習(xí)題：第二篇第二篇電法勘探電法勘探1、電法勘探的定義？電法勘探的定義？電法勘探是以巖、礦石之間電學(xué)性質(zhì)的差異為基礎(chǔ)，通過觀測(cè)和研究與這些差異有關(guān)的電場或電磁場在空間或時(shí)間上的分布特點(diǎn)和變化規(guī)律，來查明地下地質(zhì)構(gòu)造和尋找地下電性不均勻體(巖溶、風(fēng)化層、滑坡體等)的一類勘查地球物理方法。一、電阻率法一、電阻率法1、影響巖土介質(zhì)電阻率的因素有哪些？怎樣影響？、影響巖土介質(zhì)電阻率的因素有哪些？怎樣影響？自然狀態(tài)下，巖土介質(zhì)的

2、電阻率除與介質(zhì)組分有關(guān)外，還與巖石的結(jié)構(gòu)、構(gòu)造、孔隙度、濕度、礦化度及溫度等因素有關(guān)。介質(zhì)組分：一般來說，當(dāng)巖石中良導(dǎo)性礦物的體積含量高時(shí)，其電阻率通常較低。相反，當(dāng)造巖礦物含量高時(shí)，巖石電阻率亦很高。結(jié)構(gòu)和構(gòu)造：在導(dǎo)電金屬礦物含量相同的條件下，巖石的結(jié)構(gòu)起著重要的作用。浸染狀結(jié)構(gòu)巖石中良導(dǎo)性礦物被不導(dǎo)電礦物包圍，其電阻率要比良導(dǎo)性礦物彼此相連的細(xì)脈狀結(jié)構(gòu)巖石為高。如對(duì)含針、片狀礦物，沿層理方向（縱向）電阻率小于垂直層理方向（橫向）電阻

3、率，兩個(gè)方向間存在各向異性。濕度：濕度對(duì)巖石的電阻率有很大的影響，這是因?yàn)樗碾娮杪瘦^小，含水巖石的電阻率遠(yuǎn)比干燥的巖石低。礦化度：礦化度越高，電阻率越低。溫度：溫度的變化直接影響著巖石的電阻率。這是因?yàn)?，溫度升高時(shí)，一方面巖石中水溶液的粘滯性減小，使溶液中離子的遷移率增大。另一方面，又使溶液的溶解度增加，礦化度提高，所以巖石的電阻率通常隨溫度的升高而下降。2、縱向電導(dǎo)和橫向電阻的含義及其公式表述形式？、縱向電導(dǎo)和橫向電阻的含義及其公式

4、表述形式？為了研究層狀介質(zhì)的導(dǎo)電特性，我們?cè)趯訝罱橘|(zhì)中取底面積為l、厚度為的六面2mh巖柱體。水平均勻?qū)訝罱橘|(zhì)模型當(dāng)電流垂直于柱體底面流過時(shí)，所測(cè)得的電阻稱為橫向電阻，用符號(hào)表示。顯然，T第i層的橫向電阻等于該電性層的厚度與電阻率的乘積，即：iiihT??當(dāng)六面巖柱體由厚度和電性不同的個(gè)巖層組成時(shí)，按串聯(lián)電路原理，其總橫向電1?n阻為：3所以，。這樣，地表觀測(cè)視電阻率的變化，便可揭示地下電性不均勻地MNj0js?MN?質(zhì)體的存在與分布，

5、這就是電阻率法能夠解決有關(guān)地質(zhì)問題的基本物理依據(jù)。應(yīng)用該公式時(shí)，有一個(gè)表土電性均勻的假設(shè)，即沿著測(cè)線移動(dòng)變化很小，否則將既取決于MN?s?的變化，也取決于的變化，無法判斷視電阻率的變化到底是地表電性不均勻體引MN?MNj起的，還是地下電性不均勻體引起的。8、在非均勻介質(zhì)中電流場具有什么特點(diǎn)？實(shí)質(zhì)是什么？、在非均勻介質(zhì)中電流場具有什么特點(diǎn)？實(shí)質(zhì)是什么？在非均勻介質(zhì)中，電流線在不同介質(zhì)的分界面會(huì)發(fā)生折射?？傮w上表現(xiàn)為：低阻體吸引電流線，致使

6、大部分電流從它的內(nèi)部流過；高阻體排斥電流線，致使電流線大部分從圍巖流過。介質(zhì)中的電流總是按照所遇阻力最小的路徑流動(dòng)，或者說總是自動(dòng)地滿足電場做功最小的狀態(tài)。非均勻介質(zhì)中的穩(wěn)定電流場實(shí)質(zhì)上可以看成是由場源和界面上的積累電荷產(chǎn)生的。界面上積累電荷的密度與場源強(qiáng)度及界面兩側(cè)的電阻率差異成正比。吸引或排斥均為界面上積累電荷的作用。當(dāng)電流由低阻體進(jìn)入高阻體時(shí)，界面上積累正電荷，與場源同符號(hào)。按同性相斥的原理，高阻體對(duì)來自場源的電流線起排斥作用。反

7、之，若電流由高阻體進(jìn)入低阻體時(shí)，界面上積累負(fù)電荷，與場源反號(hào)，按異性相吸的道理，低阻體對(duì)場源發(fā)出的電流線起吸引作用。9、研究電流密度隨深度的分布規(guī)律有怎樣的意義？影響探測(cè)深度的主要因素是什么？、研究電流密度隨深度的分布規(guī)律有怎樣的意義？影響探測(cè)深度的主要因素是什么？勘探深度是指在給定裝置條件下能產(chǎn)生可靠相對(duì)異常、可查明探側(cè)目標(biāo)的最大深度。研究電流密度隨深度的變化規(guī)律，對(duì)電阻率法勘探有很大意義。因?yàn)?，地面電阻率法是根?jù)地表電流密度的變化來

8、判斷地下電阻率有明顯差異的地質(zhì)體的存在。集中于地表的電流越多，流入地下深處的電流就越少。當(dāng)埋藏于深部的巖石中的電流密度很小時(shí)，巖石電阻率的差異對(duì)地表附近電流密度的影響很小，因而能夠進(jìn)行勘探的深度也就小了。要想增大勘探深度、只有增加供電極距。AB越大，勘探深度也越大。1010、電阻率剖面法的總體特征是什么？有哪些分類？、電阻率剖面法的總體特征是什么？有哪些分類？總體特征：供電極距不變，整個(gè)裝置沿觀測(cè)剖面線移動(dòng)，逐點(diǎn)觀測(cè)視電阻率的變化。根據(jù)

9、勘探深度和供電極距的關(guān)系，由于供電極距不變，勘探深度就保持在同一個(gè)范圍內(nèi)。因此電阻率剖面法研究的是某個(gè)深度范圍以上橫向上電阻率的分布情況。主要可分為：聯(lián)合剖面法，適用于探測(cè)陡傾的低阻體；（復(fù)合）對(duì)稱四級(jí)剖面法，適用于面積性測(cè)量；中間梯度法，適用于探測(cè)陡傾的高阻體；偶極剖面法等。1111、聯(lián)系“聯(lián)合剖面法”方法的命名說明“聯(lián)合剖面法”的總體特征及主要適用范圍？、聯(lián)系“聯(lián)合剖面法”方法的命名說明“聯(lián)合剖面法”的總體特征及主要適用范圍？總體特

10、征：聯(lián)合剖面法是用兩組三極裝置進(jìn)行測(cè)量，這是“聯(lián)合”一詞的由來。每組三極裝置有一個(gè)無窮遠(yuǎn)極。在同一測(cè)點(diǎn)上，兩組三極裝置各測(cè)一次。在低阻體上方有正交點(diǎn)存在，在高阻體上方有反交點(diǎn)存在。優(yōu)點(diǎn)：靈敏度高、分辨力強(qiáng)、異常幅度大。缺點(diǎn)：該測(cè)量方式工作效率低，因?yàn)橐稽c(diǎn)測(cè)量兩次，裝置比較笨重，有笨重的無窮遠(yuǎn)極存在。受地形和地表巖性不均勻的影響大，易使曲線發(fā)生畸變而出現(xiàn)假異常。適用范圍：主要用于尋找產(chǎn)狀陡傾的層狀或脈狀低阻體或斷裂破碎帶。1212、聯(lián)系“

11、中間梯度法”方法的命名說明“中間梯度法”的總體特征及主要適用范圍？、聯(lián)系“中間梯度法”方法的命名說明“中間梯度法”的總體特征及主要適用范圍？這種方法的特點(diǎn)是供電電極A和B相距很遠(yuǎn)且固定不動(dòng)，測(cè)量電極M和N在A、B之間的中部約(1213)AB的范圍內(nèi)同時(shí)移動(dòng)，逐點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量。此外，MN還可以在平行于主剖面線AB的幾條相鄰測(cè)線中部移動(dòng)，逐點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量。旁測(cè)線與主測(cè)線的最大垂直距離不超過16AB。由于中間梯度法布設(shè)一次供電電極可同時(shí)觀測(cè)數(shù)條測(cè)線，