2013材料復(fù)習(xí)題

1、材料現(xiàn)代分析復(fù)習(xí)題一、填空題1、影響透射電鏡分辨率的因素主要有：衍射效應(yīng)衍射效應(yīng)和電鏡的像差電鏡的像差（球差、像散、色差）（球差、像散、色差）等。2、透射電子顯微鏡的照明系統(tǒng)由電子槍電子槍、聚光鏡、聚光鏡和相應(yīng)的平移對(duì)中、傾斜調(diào)節(jié)裝置組成。它的作用是提供一束亮度高、照明孔經(jīng)角小、平行度好、束流穩(wěn)定的照明源。它應(yīng)滿足明場(chǎng)和暗場(chǎng)成像需求。3、透射電子顯微鏡的成像系統(tǒng)主要是由物鏡物鏡、中間鏡、中間鏡和投影鏡投影鏡組成。4、當(dāng)X射線管電壓超過臨

2、界電壓就可以產(chǎn)生特征譜特征譜X射線和連續(xù)譜連續(xù)譜X射線。5、X射線與物質(zhì)相互作用可以產(chǎn)生散射散射、入射入射、透射透射、吸收吸收6、經(jīng)過厚度為H的物質(zhì)后，X射線的強(qiáng)度為IH=I0exp(μH)。7、X射線的本質(zhì)既是高頻率不可見高頻率不可見《光》也是電磁波電磁波，具有波粒二象波粒二象性。8、短波長(zhǎng)的X射線稱硬X射線射線，常用于衍射分析衍射分析；長(zhǎng)波長(zhǎng)的X射線稱軟X射線射線，常用于熒光分析熒光分析。9、德拜相機(jī)有兩種，直徑分別是57.3和Φ1

3、14.6mm。測(cè)量θ角時(shí)，底片上每毫米對(duì)應(yīng)2和1。10、衍射儀的核心是測(cè)角儀圓，它由試樣臺(tái)、輻射源和探測(cè)器試樣臺(tái)、輻射源和探測(cè)器共同組成。11、可以用作X射線探測(cè)器的有正比計(jì)數(shù)器、閃爍計(jì)數(shù)器和正比計(jì)數(shù)器、閃爍計(jì)數(shù)器和SiLi半導(dǎo)體探測(cè)器半導(dǎo)體探測(cè)器等12、影響衍射儀實(shí)驗(yàn)結(jié)果的參數(shù)有狹縫寬度、掃描速度和時(shí)間常數(shù)狹縫寬度、掃描速度和時(shí)間常數(shù)等。13、X射線物相分析包括定性分析定性分析和定量分析定量分析，而定性分析定性分析更常用更廣泛。14、

4、第一類應(yīng)力導(dǎo)致X射線衍射線峰線偏移（峰線偏移（衍射線條位移）；第二類應(yīng)力導(dǎo)致衍射線峰線峰線寬化寬化(線條變寬)；第三類應(yīng)力導(dǎo)致衍射線衍射強(qiáng)度降低衍射強(qiáng)度降低。15、X射線物相定量分析方法有內(nèi)標(biāo)法內(nèi)標(biāo)法、外標(biāo)法外標(biāo)法、無標(biāo)樣法無標(biāo)樣法等。16、TEM中的透鏡有兩種，分別是磁透鏡磁透鏡和電透鏡電透鏡。17、TEM中的三個(gè)可動(dòng)光欄分別是第二聚光鏡光欄第二聚光鏡光欄位于第二聚光鏡焦點(diǎn)上第二聚光鏡焦點(diǎn)上，物鏡光欄物鏡光欄位于物鏡的背物鏡的背焦面上

5、焦面上，選區(qū)光欄選區(qū)光欄位于。18、TEM成像系統(tǒng)由物鏡、中間鏡和投影鏡物鏡、中間鏡和投影鏡與樣品室構(gòu)成組成。19、TEM的主要組成部分是照明系統(tǒng)、成像系統(tǒng)照明系統(tǒng)、成像系統(tǒng)和觀察記錄觀察記錄系統(tǒng)；輔助部分由真空系統(tǒng)真空系統(tǒng)、循環(huán)冷卻循環(huán)冷卻系統(tǒng)和控制系統(tǒng)系統(tǒng)和控制系統(tǒng)組成。20、電磁透鏡的像差包括球差、像散、色差球差、像散、色差。21、電子衍射和X射線衍射的不同之處在于電子散射強(qiáng)度大導(dǎo)致攝譜時(shí)間短電子散射強(qiáng)度大導(dǎo)致攝譜時(shí)間短不同、電子

6、多次衍電子多次衍射導(dǎo)致電子束強(qiáng)度不能被測(cè)量射導(dǎo)致電子束強(qiáng)度不能被測(cè)量不同，以及電子波長(zhǎng)短導(dǎo)致的布拉格角小電子波長(zhǎng)短導(dǎo)致的布拉格角小不同。22、電子束與固體樣品相互作用可以產(chǎn)生背散射電子、二次電子、吸收電子、俄歇電子、特征X射線、透射電子、可見光等物理信號(hào)。23、掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)是顯示屏顯示屏的掃描寬度與樣品樣品上的掃描寬度的比值。在襯度像上顆粒、凸起的棱角是亮襯度，而裂紋、凹坑則是暗襯度。24.倒易矢量的方向是對(duì)應(yīng)正空間晶面的法

7、線法線；倒易矢量的長(zhǎng)度等于對(duì)應(yīng)晶面間距的倒數(shù)晶面間距的倒數(shù)。25.影響衍射強(qiáng)度的因素除結(jié)構(gòu)因素、晶體形狀外還有:角因素角因素多重性因素多重性因素溫度因素、試樣對(duì)溫度因素、試樣對(duì)X射線的吸收。線的吸收。26、現(xiàn)代熱分析儀大致由五個(gè)部分組成：程序控溫系統(tǒng)、測(cè)量系統(tǒng)、顯示系統(tǒng)、氣氛控制系統(tǒng)、操、現(xiàn)代熱分析儀大致由五個(gè)部分組成：程序控溫系統(tǒng)、測(cè)量系統(tǒng)、顯示系統(tǒng)、氣氛控制系統(tǒng)、操作和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。作和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。程序控溫系統(tǒng)由爐子和控溫兩部分組

8、成。其中測(cè)量系統(tǒng)。其中測(cè)量系統(tǒng)是熱分析的核心部分。27、影響DTA曲線的因素包括三個(gè)方面：操作方面的因素，樣品方面的因素，儀器方面的因素。操作方面的因素，樣品方面的因素，儀器方面的因素。28、材料結(jié)構(gòu)與性能的表征包括（材料性能）、（微觀結(jié)構(gòu)）和（成分）的測(cè)試與表征。A.物鏡的物平面；B.物鏡的像平面C.物鏡的背焦面；D.物鏡的前焦面。18.單晶體電子衍射花樣是（A）。A.規(guī)則的平行四邊形斑點(diǎn)；B.同心圓環(huán)；C.暈環(huán)；D.不規(guī)則斑點(diǎn)。19

9、.僅僅反映固體樣品表面形貌信息的物理信號(hào)是（B）。A.背散射電子；B.二次電子；C.吸收電子；D.透射電子。20.在掃描電子顯微鏡中，下列二次電子像襯度最亮的區(qū)域是（C）。A.和電子束垂直的表面；B.和電子束成30的表面；C.和電子束成45的表面；D.和電子束成60的表面。21.掃描電子顯微鏡配備的成分分析附件中最常見的儀器是（B）。A.波譜儀；B.能譜儀；C.俄歇電子譜儀；D.特征電子能量損失譜。三、判斷題1.隨X射線管的電壓升高，λ

10、0和λk都隨之減小。（）2.激發(fā)限與吸收限是一回事，只是從不同角度看問題。（）3.經(jīng)濾波后的X射線是相對(duì)的單色光。（√）4.產(chǎn)生特征X射線的前提是原子內(nèi)層電子被打出核外，原子處于激發(fā)狀態(tài)。（√）5.選擇濾波片只要根據(jù)吸收曲線選擇材料，而不需要考慮厚度。（）6.倒易矢量能唯一地代表對(duì)應(yīng)的正空間晶面。（√）7.X射線衍射與光的反射一樣，只要滿足入射角等于反射角就行。（）8.干涉晶面與實(shí)際晶面的區(qū)別在于：干涉晶面是虛擬的，指數(shù)間存在公約數(shù)n。

11、（√）9.布拉格方程只涉及X射線衍射方向，不能反映衍射強(qiáng)度。（√）10.衍射儀法和德拜法一樣，對(duì)試樣粉末的要求是粒度均勻、大小適中，沒有應(yīng)力。（）11.X射線衍射之所以可以進(jìn)行物相定性分析，是因?yàn)闆]有兩種物相的衍射花樣是完全相同的。（√）12.理論上X射線物相定性分析可以告訴我們被測(cè)材料中有哪些物相，而定量分析可以告訴我們這些物相的含量有多少。（√）13.孔徑半角α是影響分辨率的重要因素，TEM中的α角越小越好。（）14.有效放大倍數(shù)與

12、儀器可以達(dá)到的放大倍數(shù)不同，前者取決于儀器分辨率和人眼分辨率，后者僅僅是儀器的制造水平。（√）15.TEM中主要是電磁透鏡，由于電磁透鏡不存在凹透鏡，所以不能象光學(xué)顯微鏡那樣通過凹凸鏡的組合設(shè)計(jì)來減小或消除像差，故TEM中的像差都是不可消除的。（√）16.TEM的景深和焦長(zhǎng)隨分辨率Δr0的數(shù)值減小而減?。浑S孔徑半角α的減小而增加；隨放大倍數(shù)的提高而減小。（）17.明場(chǎng)像是質(zhì)厚襯度，暗場(chǎng)像是衍襯襯度。（）18.掃描電子顯微鏡中的物鏡與透射

13、電子顯微鏡的物鏡一樣。（）19.掃描電子顯微鏡具有大的景深，所以它可以用來進(jìn)行斷口形貌的分析觀察。（√）20、襯度是指圖象上不同區(qū)域間明暗程度的差別。（√）四、名詞解釋1、系統(tǒng)消光：因?F?2=0而使衍射線消失的現(xiàn)象稱為系統(tǒng)消光。2、景深與焦長(zhǎng)：將由衍射和像差產(chǎn)生散焦斑的尺寸r0所允許的物平面軸向偏差定義為透鏡的景深Df在一定分辨率下，具有透鏡景深范圍內(nèi)的試樣各部分的圖像都具有相同的清晰度。透鏡的焦深：將由衍射和像差產(chǎn)生散焦斑的尺寸r0