質(zhì)量管理信息系統(tǒng)中控制圖模式的研究及實(shí)現(xiàn).pdf

1、作為質(zhì)量管理信息系統(tǒng)中的關(guān)鍵技術(shù)之一，SPC(統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制)技術(shù)對(duì)于整個(gè)系統(tǒng)的運(yùn)作起到了至關(guān)重要的作用。SPC 可以對(duì)質(zhì)量數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，以便對(duì)過(guò)程的異常提出預(yù)警，幫助恢復(fù)過(guò)程的穩(wěn)定性，從而提高產(chǎn)品的質(zhì)量。 本文主要針對(duì) SPC 技術(shù)的控制圖部分展開(kāi)研究，在借鑒國(guó)內(nèi)外研究和應(yīng)用技術(shù)的基礎(chǔ)上，提出了 SHEWHART 控制圖和 EWMA 控制圖相結(jié)合的控制圖模式。 論文對(duì) SHEWHART 控制圖、CUSUM 控制圖以及

2、 EWMA 控制圖性能進(jìn)行了較為詳細(xì)的研究，主要工作包括： (1) 借助 Matlab，確定平均運(yùn)行長(zhǎng)度的計(jì)算程序，得出樣本大小n對(duì)控制圖性能的影響。 (2) 運(yùn)用平均運(yùn)行長(zhǎng)度為度量標(biāo)準(zhǔn)，確定控制圖參數(shù)，對(duì)三種控制圖檢測(cè)大小偏移的性能進(jìn)行比較，得出其在不同情況和參數(shù)下的優(yōu)劣。 (3) 根據(jù)研究結(jié)果，分析不同控制圖對(duì)不同偏移的性能并提出 SHEWHART 控制圖和 EWMA控制圖相結(jié)合的控制圖模式以獲得對(duì)各種

3、偏移的良好識(shí)別能力。 (4) 將所提出的控制圖模式應(yīng)用于系統(tǒng)開(kāi)發(fā)當(dāng)中，開(kāi)發(fā)過(guò)程采用 Java 語(yǔ)言進(jìn)行，系統(tǒng)實(shí)施方面則采用適用于本系統(tǒng)的 C/S 體系結(jié)構(gòu)。 通過(guò)實(shí)例驗(yàn)證，發(fā)現(xiàn)該控制圖模式能有效地識(shí)別大小偏移，彌補(bǔ)了單一控制圖的局限性。既保留了 SHEWHART 控制圖在識(shí)別大偏移上的優(yōu)勢(shì)又改進(jìn)了其在識(shí)別小偏移上的不足。 本論文的內(nèi)容對(duì)提高控制圖的靈敏性具有理論與應(yīng)用價(jià)值，進(jìn)而提高了質(zhì)量管理信息系統(tǒng)的性能，