22150.面向等離子體材料輻照缺陷的演化研究

1、分類號(hào)：密級(jí)：UDC：編號(hào)：面向等離子體材料輻照缺陷的演化研究Studyontheevolutionofirradiateddefectsintheplasmafacingmaterial學(xué)位授予單位及代碼：長(zhǎng)春理工大學(xué)（10186）學(xué)科專業(yè)名稱及代碼：物理電子學(xué)（077401）研究方向：光電子學(xué)與光電子技術(shù)申請(qǐng)學(xué)位級(jí)別：碩士指導(dǎo)教師：宋貴才教授研究生：李欣論文起止時(shí)間：2013.09—2014.12I摘要鉬(Mo)和鎢(W)材料作為可

2、控核聚變裝置中直接面向等離子體的重要候選材料被廣泛的研究，因此我們模擬鉬，鎢等第一壁候選材料在聚變產(chǎn)物下的輻照損傷物理機(jī)理，對(duì)磁約束聚變環(huán)形等離子體第一壁材料的抗輻射有非同尋常的幫助。為完成對(duì)鉬，鎢材料的離子輻照，我們?cè)O(shè)計(jì)了等離子體輻照實(shí)驗(yàn)平臺(tái)。等離子體輻照實(shí)驗(yàn)平臺(tái)的優(yōu)點(diǎn)是它能夠產(chǎn)生均勻而且高密度的等離子體。在此實(shí)驗(yàn)平臺(tái)我們?cè)O(shè)計(jì)了低能大流強(qiáng)氦離子對(duì)鉬靶的輻照實(shí)驗(yàn)和改變輻照溫度對(duì)鎢材料的表面損傷作用的兩個(gè)實(shí)驗(yàn)。低能大流強(qiáng)氦離子對(duì)鉬靶的輻照

3、實(shí)驗(yàn)采用低能（100eV），大流強(qiáng)(?1021ionsm2?s)He在600℃對(duì)鉬樣品進(jìn)行輻照實(shí)驗(yàn)，考察了離子輻照劑量和退火溫度變化對(duì)鉬材料的表面損傷作用。我們使用日本公司生產(chǎn)掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscopeSEM)，以及無(wú)損傷的導(dǎo)電式原子力顯微鏡(ConductiveAtomicFceMicroscopyCAFM)檢測(cè)技術(shù)對(duì)輻照前后樣品的微觀形貌、微結(jié)構(gòu)演化以及內(nèi)表面缺陷分布等進(jìn)行了對(duì)比研究。對(duì)鎢材