12974.x射線能譜測量與模擬

1、ClassifiedIndex：0469UDC：530SecrecyRate：PublicizedUniversityCode：10082HebeiUniversityofScienceandTechnologyDissertationfortheMasterDegreeXraySpectrumMeasurementandSimulationCandidate：Supervisor：AssociateSuoervisor：Academi

2、cDegreeAppliedfor：Speciality：Employer：DateofOralExamination：YaoXinboProfRenShiweiAssociateProfWuJinjieMasterofScienceCondensedMatterPhysicsCollegeofSciencesMay2015摘要出蠡i五于尚要1895年，德國科學家倫琴發(fā)現(xiàn)了X射線，開辟了一個嶄新的、廣闊的物理研究領(lǐng)域。其中，針對電子打靶

3、產(chǎn)生的韌致輻射x射線的研究，是X射線研究領(lǐng)域的一個重要課題。本文在國內(nèi)外針對X射線能譜測量與解析的基礎(chǔ)上，利用高純鍺(HPGe)探測器使用直接測量法與間接測量法對鎢靶X射線與鉬靶x射線能譜進行了測量。工作分為以下幾個部分：1)利用標準點源分別對高純鍺(HPGe)探測器與碲化鎘(CdTe)探測器進行能量刻度，得到能量刻度曲線。2)利用工業(yè)CT對能譜探測器內(nèi)部結(jié)構(gòu)進行掃描，得到能譜探測器內(nèi)部結(jié)構(gòu)的精確尺寸，并以此為基礎(chǔ)建立蒙特卡洛模型。利用

4、蒙特卡洛模型計算HPGe探測器與CdTe探測器的本征探測效率，得到探測效率的模擬曲線，以此確定選用何種探測器作為能譜探測器。3)利用標準點源對HPGe探測器進行效率刻度，并計算出HPGe探測器的本征探測效率。將HPGe探測器實驗測得本征探測效率與模擬本征探測效率相比較，計算相對標準偏差測器模型的準確度。4)利用標定好的HPGe探測器構(gòu)建能譜測量系統(tǒng)，測量鎢靶中能x射線治療水平規(guī)范下與重過濾規(guī)范下的脈沖高度能譜。5)利用高純鍺探測器測量鉬