遺傳基因算法在SOC驗(yàn)證平臺(tái)上的應(yīng)用及改進(jìn).pdf

1、隨著集成電路制造工藝不斷進(jìn)步，片上系統(tǒng)的集成度不斷提高，設(shè)計(jì)流程的瓶頸在于怎樣保證RTL(register transfer level)描述和specification功能定義一致。現(xiàn)階段功能驗(yàn)證占據(jù)了整個(gè)設(shè)計(jì)時(shí)間的50％～80％，根據(jù)ITRS的預(yù)計(jì)在接下來的幾年內(nèi)，集成電路設(shè)計(jì)面臨的巨大挑戰(zhàn)是增強(qiáng)驗(yàn)證能力。由于目前驗(yàn)證方法需要人工分析覆蓋率信息并以此開發(fā)針對(duì)性更強(qiáng)的驗(yàn)證向量，所以存在驗(yàn)證效率低以及能達(dá)到的覆蓋率低等問題。因此需要研究

2、一種用人工智能算法自動(dòng)生成驗(yàn)證向量的方法，來提高驗(yàn)證效率和保證驗(yàn)證的完備性。
　　 目前生命科學(xué)和工程科學(xué)的相互交叉，相互滲透和相互促進(jìn)是近代科學(xué)技術(shù)發(fā)展的一個(gè)顯著特點(diǎn)，而遺傳基因算法的蓬勃發(fā)展正體現(xiàn)了科學(xué)發(fā)展的這一特征和趨勢(shì)。論文提出了一種基于遺傳基因算法和覆蓋率驅(qū)動(dòng)技術(shù)的RTL代碼功能驗(yàn)證向量自動(dòng)生成算法。其特點(diǎn)是利用遺傳基因算法動(dòng)態(tài)分析反饋的功能覆蓋率信息，并通過初始化向量群，計(jì)算適應(yīng)度，選擇，交叉，變異等遺傳操作自動(dòng)生成

3、針對(duì)性更強(qiáng)的驗(yàn)證向量，如此自動(dòng)反復(fù)循環(huán)，直到達(dá)到目標(biāo)覆蓋率為止。
　　 論文針對(duì)驗(yàn)證平臺(tái)的特點(diǎn)對(duì)初始化群體的規(guī)模，自適應(yīng)函數(shù)的設(shè)計(jì)，定標(biāo)準(zhǔn)則和懲罰機(jī)制，以及選擇，交叉，變異這三個(gè)遺傳算子的操作流程和概率分配等設(shè)計(jì)進(jìn)行了詳細(xì)介紹，并提出相應(yīng)的改進(jìn)思路。最后在Synopsys公司提供的VCS仿真環(huán)境中用Open Vera語(yǔ)言搭建C3220_USB驗(yàn)證平臺(tái)，并嵌入了用Open Vera語(yǔ)言實(shí)現(xiàn)的遺傳基因算法的核心程序，對(duì)USB1.1模