新概念動(dòng)態(tài)測(cè)試若干問(wèn)題研究.pdf

1、新概念動(dòng)態(tài)測(cè)試，即把測(cè)試系統(tǒng)放置到被測(cè)體上或被測(cè)環(huán)境中，在被測(cè)體實(shí)際運(yùn)動(dòng)的過(guò)程中實(shí)時(shí)實(shí)況地測(cè)取其動(dòng)態(tài)參數(shù)。要求測(cè)試用的傳感器和測(cè)試儀器放置到被測(cè)體中或被測(cè)環(huán)境中，承受與被測(cè)體相同的惡劣環(huán)境的作用，因而產(chǎn)生許多和通常意義上的動(dòng)態(tài)測(cè)試不同的新問(wèn)題。本文主要研究其中的三個(gè)問(wèn)題： 一是針對(duì)新概念動(dòng)態(tài)測(cè)試環(huán)境的惡劣性，提出應(yīng)用環(huán)境下校準(zhǔn)的理論和技術(shù)，分析了應(yīng)用環(huán)境下校準(zhǔn)的必要性及合理性，論證了在此應(yīng)用環(huán)境下動(dòng)態(tài)校準(zhǔn)成立的各種條件，進(jìn)行了1

2、000余次應(yīng)用環(huán)境下的校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)。此外，由于測(cè)試環(huán)境和實(shí)測(cè)環(huán)境的相似，校準(zhǔn)的同時(shí)也驗(yàn)證了測(cè)試系統(tǒng)的可靠性。 二是針對(duì)新概念動(dòng)態(tài)測(cè)試系統(tǒng)受到體積和存儲(chǔ)容量的限制，提出一種頻率自適應(yīng)采樣的新方法——數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)無(wú)損壓縮技術(shù)實(shí)現(xiàn)采樣頻率自適應(yīng)。設(shè)計(jì)了基于LZW字典壓縮的頻率自適應(yīng)模塊，實(shí)時(shí)采樣速率可達(dá)2Mbyte/s，壓縮電路模塊功耗約60mA，滿足了一般測(cè)試要求。 三是針對(duì)新概念測(cè)試系統(tǒng)數(shù)據(jù)通信接口陳舊，傳輸速度慢，設(shè)計(jì)了USB與