基于CompactPCI測控系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與應(yīng)用.pdf

1、某裝置的研究是化學(xué)和物理相互結(jié)合而發(fā)展起來的一個(gè)邊緣性研究領(lǐng)域，它涉及到化學(xué)反應(yīng)動(dòng)力學(xué)、流體力學(xué)、熱力學(xué)、光學(xué)等綜合性研究課題。它的試驗(yàn)是一個(gè)極為復(fù)雜的過程，是以高速、高溫、高壓的綜合方式進(jìn)行的。它的研究需要通過大量的試驗(yàn)來探索其各項(xiàng)性能，因此實(shí)時(shí)、準(zhǔn)確、便捷的測控系統(tǒng)將為其研制帶來極大的便利，深入開展測量控制技術(shù)的研究十分必要。 本文在深入分析討論某裝置試驗(yàn)參數(shù)特點(diǎn)以及機(jī)載要求的基礎(chǔ)上，通過對幾種常用總線的比較，以及對比原有測

2、控系統(tǒng)的低抗振性和擴(kuò)充性，提出用一臺(tái)Compact PCI工控機(jī)和顯控臺(tái)操作模式組建測控系統(tǒng)的總體方案。硬件采用顯控臺(tái)加按鈕的操作模式，整個(gè)試驗(yàn)用按鈕完成，操作簡單易于掌握。在Windows 環(huán)境下利用VC++多線程技術(shù)和NI的Measurement Studio軟件開發(fā)平臺(tái)，開發(fā)了操作簡單、界面友好、通用化程度高的多任務(wù)的數(shù)據(jù)采集和控制軟件。這些設(shè)計(jì)方案大大提高了測控系統(tǒng)的可靠性和穩(wěn)定性。 應(yīng)用本文研究設(shè)計(jì)的測控系統(tǒng)進(jìn)行了一系