AWG器件測試參數(shù)分析與可靠性實驗研究.pdf

1、全光通信是未來通信的發(fā)展趨勢，密集波分復用（DWDM）技術是光通信中的關鍵技術，而復用器/解復用器（MUX/DMUX）又是DWDM系統(tǒng)中的關鍵器件。陣列波導光柵（AWG）作為MUX/DMUX中的佼佼者，重要性自不必說。然而，涉及AWG測試及可靠性方面的研究十分有限，本文的研究正好填補了這一空白。
　　本文研究內容包括以下幾個方面：
　　首先，從PDL產生的原理出發(fā)，對目前生產測試上普遍使用的計算方法做了詳細介紹，結合公司目前

2、使用的四態(tài)法即Mueller矩陣法，使用現(xiàn)有的測試系統(tǒng)，測量了1×32通道系列AWG產品。由得到的原始數(shù)據，計算出了第一通道的偏振相關損耗（PDL）值。隨后，全面分析了該測試系統(tǒng)，計算了各個相關器件對PDL測試指標的影響。在此基礎上對系統(tǒng)進行了優(yōu)化、改進，目前已經應用于生產實踐，有效地提高了測試AWG產品PDL值的準確性。
　　其次對AWG器件的可靠性實驗（溫度循環(huán)實驗、高溫高濕實驗）進行了研究。運用EXCEL工具，對其實驗數(shù)據進

3、行處理，根據生成圖像判定產品的可靠性。還針對溫度循環(huán)實驗中光源不穩(wěn)定的現(xiàn)象，提出了提高光源穩(wěn)定性的實驗方案，就是在光路中光源后面加入一光學衰減器（Agilent-HA9），當光源不穩(wěn)定的時候，對光源輸出功率做動態(tài)補償，從而得到穩(wěn)定輸出的光功率。實驗證實，其穩(wěn)定精度可達到0.1dB。最后，選取3個AWG產品做了高溫高濕實驗，經過168小時和336小時兩次試驗后,AWG芯片的性能發(fā)生了很明顯的變化。給出了實驗前后的數(shù)據、參數(shù)比較圖,為我們分