2023年全國(guó)碩士研究生考試考研英語(yǔ)一試題真題（含答案詳解+作文范文）_第1頁(yè)
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1、集成電路測(cè)試成本在lC的最終出售的產(chǎn)品中是沒(méi)有體現(xiàn)附加值的,但綜觀整個(gè)封裝和測(cè)試成本,其中測(cè)試成本要占到整個(gè)成本的60﹪.所以各家半導(dǎo)體公司為提高競(jìng)爭(zhēng)力,降低成本狠抓設(shè)備利用率和降低測(cè)試時(shí)間.其中提高利用率的有效方法之一就是要保證訂單要滿(mǎn)產(chǎn)能,然而每個(gè)產(chǎn)品的生命周期是不一樣的,少則一年兩年,多則十年八年,甚至二十年.這就造成了待測(cè)IC和測(cè)試系統(tǒng)不能平衡,某些測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)能不夠,而另外一些測(cè)試系統(tǒng)不能充分利用,所以我們要轉(zhuǎn)換產(chǎn)品的測(cè)試系統(tǒng)來(lái)

2、達(dá)到平衡測(cè)試機(jī)產(chǎn)能,從而提高測(cè)試機(jī)利用率. 通過(guò)對(duì)LTX77(TS80)和LTX硬件和軟件的分析,并對(duì)FREESCALE現(xiàn)有的測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行評(píng)估,最終選定TERADYNE公司的A585和iFlex測(cè)試系統(tǒng)作為目標(biāo)測(cè)試系統(tǒng),進(jìn)行了兩個(gè)芯片MC34118和PCIJ03ABS的跨平臺(tái)轉(zhuǎn)換IC測(cè)試系統(tǒng)(MC34118從LTX77轉(zhuǎn)到A585測(cè)試平臺(tái)和PCU03從LTX轉(zhuǎn)到iFlex測(cè)試平臺(tái)),包括硬件和軟件的轉(zhuǎn)換,設(shè)計(jì)測(cè)試板(使用Prot

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