GSM基站扇區(qū)功率校準(zhǔn)缺陷分析及改進(jìn).pdf

1、市場反饋市場上主要GSM基站設(shè)備供應(yīng)商的產(chǎn)品都不需要在現(xiàn)場安裝后進(jìn)行重新校準(zhǔn)，在這點上我們已經(jīng)落后。所以擁有這個能力對提高產(chǎn)品的市場競爭力至關(guān)重要。這就需要將機(jī)柜校準(zhǔn)在工廠測試中完成。由于在小區(qū)功率校準(zhǔn)過程中產(chǎn)生的功率跳動，使得產(chǎn)品測試的缺陷率增加了10％，導(dǎo)致工廠的測試產(chǎn)能受到極大限制，降低了生產(chǎn)線的生產(chǎn)效率。
　　 通過對GSM基站設(shè)備的小區(qū)功率校準(zhǔn)理論和閉環(huán)功率控制邏輯的深入分析以及大量的實驗數(shù)據(jù)，最終發(fā)現(xiàn)造成功率跳動的根

2、本原因是射頻放大器在高輸入功率端產(chǎn)生微小的功率壓縮，它影響到了模擬衰減器步進(jìn)值的計算，造成功率控制環(huán)路無法完成對射頻功率放大器輸出功率的精確控制。最終提出了一種改進(jìn)的測試方方案，即在基站小區(qū)功率校準(zhǔn)之前和之后輸入內(nèi)存寫入命令，使問題得以解決。最終實驗結(jié)果證明這種新的測試方法能夠有效地解決基站小區(qū)功率校準(zhǔn)中出現(xiàn)的功率異常跳動問題。并且經(jīng)過一周的量產(chǎn)實驗，在超過1000個載頻模塊的功率校準(zhǔn)測試中再沒有發(fā)生類似的缺陷。改進(jìn)的測試方法最終被更新