固體材料界面電阻實(shí)驗(yàn)研究.pdf

1、目前我國(guó)電器工業(yè)的迅猛發(fā)展，兩接觸導(dǎo)體的界面的接觸點(diǎn)性能的好壞直接關(guān)系到有接觸觸點(diǎn)電器的工作性能和動(dòng)作可靠性。界面的接觸電阻是評(píng)定觸點(diǎn)性能好壞的一個(gè)主要的參數(shù)。具有良好的接觸性能，就是界面的接觸電阻低且穩(wěn)定。界面的電現(xiàn)象即界面的接觸電阻是界面接觸性能的一個(gè)重要指標(biāo)，因此研究界面的接觸電阻有重要的意義。 論文以銅試件和鋁試件形成的界面為研究對(duì)象進(jìn)行初步的實(shí)驗(yàn)研究和探討。實(shí)驗(yàn)是理論研究的基礎(chǔ)，參數(shù)的測(cè)量是固體界面電阻實(shí)驗(yàn)必須解決的基

2、本問(wèn)題。接觸電阻是一種毫歐級(jí)的微小電阻，由于影響接觸電阻的因素很多，并且各影響因素相互耦合作用使得接觸電阻的研究更為復(fù)雜。所以接觸電阻的測(cè)量要相對(duì)復(fù)雜的多。論文中分析了國(guó)內(nèi)外接觸電阻的測(cè)量方法，采用了一種通過(guò)二階振蕩電路產(chǎn)生脈沖電流的測(cè)量方法。并自行設(shè)計(jì)了接觸電阻的測(cè)量系統(tǒng)。 該測(cè)量系統(tǒng)主要以內(nèi)嵌MCU的高性能的多通道的24位數(shù)據(jù)采集芯片ADuC845為核心對(duì)接觸電阻的測(cè)量回路中的電流和電壓進(jìn)行采集。分別對(duì)測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行了硬件和軟

3、件設(shè)計(jì)和基于Visual Basic的數(shù)據(jù)采集的軟件設(shè)計(jì)。由于采集的電壓和電流信號(hào)微弱，信號(hào)處理部分利用測(cè)量放大器AD623和運(yùn)算放大器OP07進(jìn)行了兩級(jí)放大后并通過(guò)有源低通濾波器濾波，提高了采集信號(hào)的精確性。 利用自行設(shè)計(jì)的測(cè)量系統(tǒng)通過(guò)不斷改變實(shí)驗(yàn)條件以及載荷情況進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)研究，定性分析了界面接觸電阻的主要影響因素；得出了測(cè)量數(shù)據(jù)，繪制了曲線；從影響因素的曲線來(lái)分析界面接觸電阻的規(guī)律。從得到的數(shù)據(jù)曲線可以看到，不同負(fù)載、不同表