可遠(yuǎn)程控制的全自動(dòng)激光粒度儀的研制.pdf

1、激光微粒測(cè)量技術(shù)是激光研究領(lǐng)域的重要研究課題，并廣泛地應(yīng)用于工業(yè)、化工、醫(yī)藥等領(lǐng)域。近二十年來(lái)，該技術(shù)得到了極大發(fā)展和應(yīng)用，應(yīng)用該技術(shù)進(jìn)行微粒測(cè)量的激光粒度測(cè)試儀也應(yīng)運(yùn)而生。傳統(tǒng)的激光粒度測(cè)試儀基于夫瑯和費(fèi)衍射理論原理進(jìn)行粒度測(cè)量，該理論由于計(jì)算簡(jiǎn)單快捷而被廣泛采用，但該理論測(cè)量范圍較小的缺陷嚴(yán)重的限制了它的應(yīng)用范圍。 米氏(Mie)散射理論是另一個(gè)經(jīng)典的光散射理論，它最大的特點(diǎn)是可用于任何尺寸段顆粒的測(cè)量，但是其復(fù)雜的計(jì)算過(guò)程

2、限制了它的應(yīng)用。近年來(lái)，計(jì)算機(jī)技術(shù)和計(jì)算算法的進(jìn)步使得該理論在激光粒度測(cè)試儀中的應(yīng)用和實(shí)現(xiàn)成為可能。 本文首先詳細(xì)介紹了米氏散射的基本原理以及求解方法；還針對(duì)國(guó)內(nèi)市場(chǎng)上激光粒度儀的自動(dòng)化程度低的缺點(diǎn)，合理設(shè)計(jì)粒度測(cè)試流程，通過(guò)對(duì)下位機(jī)硬件電路和上位機(jī)控制電路的優(yōu)化設(shè)計(jì)，首次研究開(kāi)發(fā)出一種新型全自動(dòng)激光粒度儀，用戶(hù)只要通過(guò)上位機(jī)就可以實(shí)現(xiàn)對(duì)粒度儀的全自動(dòng)控制，大大提高了系統(tǒng)的自動(dòng)化程度，方便了用戶(hù)使用；另外由于本產(chǎn)品賣(mài)到全國(guó)各地，

3、為了便于產(chǎn)品的實(shí)時(shí)監(jiān)控和維護(hù)，我們?cè)谠摦a(chǎn)品上新增了網(wǎng)絡(luò)遠(yuǎn)程監(jiān)控的功能，以便對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行遠(yuǎn)程控制和各項(xiàng)實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)采集，從而判斷產(chǎn)品的工作狀態(tài)和故障類(lèi)型，實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程維護(hù)。 通過(guò)對(duì)算法和系統(tǒng)軟硬件的整體設(shè)計(jì)，在實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)基本功能的基礎(chǔ)上，拓寬了測(cè)量范圍，提高了測(cè)量精度，并實(shí)現(xiàn)了整個(gè)系統(tǒng)的自動(dòng)化控制。實(shí)驗(yàn)結(jié)果驗(yàn)證，我們所研制的全自動(dòng)化激光粒度儀，在擴(kuò)展了測(cè)量范圍的前提下，其測(cè)樣結(jié)果完全符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求，并且精度有很大提高。由于增加了遠(yuǎn)程控制，當(dāng)