磁光多層膜記錄特性及記錄疇觀測(cè)方法的研究.pdf

1、多層膜結(jié)構(gòu)磁光記錄介質(zhì)的應(yīng)用是目前磁光記錄技術(shù)的前沿研究課題之一。研究和分析諸膜層參數(shù)在光學(xué)耦合和磁耦合中的作用和影響，具有十分重要的意義。該文從理論和實(shí)驗(yàn)上，系統(tǒng)地作了以下一些工作。理論方面:在多層膜結(jié)構(gòu)條件，采用導(dǎo)納特征矩陣分析研究了膜系的光學(xué)耦合特性，得到了膜層參數(shù)對(duì)磁光Kerr轉(zhuǎn)角、反射率等的影響。通過熱傳導(dǎo)方程的計(jì)算機(jī)求解，得到了光微區(qū)性層的溫度場(chǎng)分布，分析研究了各層膜厚度、電介質(zhì)折射率、記錄功率、環(huán)境溫度等對(duì)溫度場(chǎng)分布的影響

2、，并估算了記錄疇的直徑。在此基礎(chǔ)上，熱磁寫入和Kerr信號(hào)讀出這兩個(gè)物理過程，利用遺傳算法對(duì)膜層參數(shù)進(jìn)行了優(yōu)化匹配。結(jié)果表明:在搜索范圍、計(jì)算速度和結(jié)果多樣性等方面，比較傳統(tǒng)算法具有明的優(yōu)勢(shì)。在光市制直接重寫部分，分析了實(shí)現(xiàn)光調(diào)制直接重寫的物理機(jī)制及其對(duì)各功能層的具體要求。實(shí)驗(yàn)方面:針對(duì)多層耦合膜記錄特性測(cè)試的需要，在偏光顯微鏡的基礎(chǔ)上，利用磁光Kerr效應(yīng)，首次研制了反射式磁光記錄特性和磁疇觀測(cè)系統(tǒng)，采用現(xiàn)代數(shù)字圖象自理的軟硬件技術(shù)，