面向?qū)ο筌浖谢貧w測試錯誤定位方法的研究.pdf

1、在軟件技術(shù)迅猛發(fā)展的今天，軟件測試作為軟件開發(fā)重要環(huán)節(jié)的同時，也成為了保證軟件質(zhì)量的重要手段。在面向?qū)ο筌浖拈_發(fā)過程中，需要不斷的測試和修改，在修改的過程容易引入新的錯誤，這就需要進行回歸測試?；貧w測試的最終目的是找出引起錯誤的原因。目前，開發(fā)人員通過追蹤變量值定位錯誤，這樣耗時費力且低效，所以如何高效地定位出面向?qū)ο筌浖谢貧w測試的錯誤是一個亟待解決的課題。 本文首先介紹了面向?qū)ο筌浖y試和回歸測試技術(shù)，重點介紹了面向?qū)ο筌?/p>

2、件中回歸測試的方法和回歸測試的詳細步驟。 接著，本文介紹三種錯誤定位方法：基于程序切片錯誤定位的方法，基于程序頻譜回歸測試錯誤定位的方法和基于程序代碼覆蓋錯誤定位的方法，并對這三種錯誤定位方法進行分析，比較它們的優(yōu)缺點。 在上述研究基礎(chǔ)上，本文提出了一種新的面向?qū)ο筌浖谢貧w測試錯誤定位方法，該方法基于程序代碼覆蓋和原子操作相結(jié)合的方法，繼承了代碼覆蓋和原子操作的優(yōu)點，并彌補這兩種方法的不足。進一步地，本文對回歸測試錯誤