納米級(jí)潤(rùn)滑膜測(cè)量?jī)x應(yīng)用軟件設(shè)計(jì).pdf

1、納米級(jí)潤(rùn)滑膜測(cè)試技術(shù)是研究納米級(jí)潤(rùn)滑膜特性的關(guān)鍵問(wèn)題之一，有了精確的潤(rùn)滑膜厚度測(cè)量才能對(duì)薄膜潤(rùn)滑進(jìn)行更深一步的研究，才能更好地解決實(shí)際工況的潤(rùn)滑問(wèn)題。隨著薄膜潤(rùn)滑理論和實(shí)際應(yīng)用的深入研究，對(duì)薄膜潤(rùn)滑膜厚的測(cè)量技術(shù)和設(shè)備提出了更高、更多的要求。特別是工業(yè)控制技術(shù)和計(jì)算機(jī)及其應(yīng)用技術(shù)的飛速發(fā)展，使以計(jì)算機(jī)為基礎(chǔ)的控制技術(shù)迅猛發(fā)展，控制過(guò)程和規(guī)律也更加復(fù)雜和精密，控制方法也更加靈活多樣，給納米級(jí)潤(rùn)滑膜測(cè)量?jī)x的智能化、集成化提供了前所未有的機(jī)遇

2、。
　　 本論文主要進(jìn)行了以下幾方面的工作：
　　 (1)對(duì)國(guó)內(nèi)外薄膜潤(rùn)滑研究現(xiàn)狀及發(fā)展趨勢(shì)進(jìn)行了分析研究，測(cè)量方法對(duì)于薄膜潤(rùn)滑的研究具有重要的作用及意義。針對(duì)NGY型納米級(jí)潤(rùn)滑膜測(cè)量?jī)x的不足之處，設(shè)計(jì)新型納米級(jí)潤(rùn)滑膜測(cè)量?jī)x的應(yīng)用軟件系統(tǒng)。
　　 (2)介紹了國(guó)內(nèi)外已廣泛應(yīng)用的潤(rùn)滑膜的測(cè)量方法及原理，并詳細(xì)介紹NGY-6型納米級(jí)潤(rùn)滑膜測(cè)量?jī)x的膜厚測(cè)量原理-光干涉相對(duì)光強(qiáng)原理。
　　 (3)分析了納米級(jí)潤(rùn)滑

3、膜測(cè)量?jī)x所用整體結(jié)構(gòu)、硬件系統(tǒng)等，針對(duì)研制的納米級(jí)潤(rùn)滑膜測(cè)量?jī)x的硬件系統(tǒng)的特點(diǎn)和實(shí)際應(yīng)用需要，對(duì)相應(yīng)的應(yīng)用軟件進(jìn)行了總體設(shè)計(jì)，包括軟件平臺(tái)和開(kāi)發(fā)工具的選擇、軟件的模塊分析、軟件的框架設(shè)計(jì)及軟件要實(shí)現(xiàn)的工作流程。
　　 (4)具體介紹納米級(jí)膜厚測(cè)量系統(tǒng)的軟件系統(tǒng)的設(shè)計(jì)，根據(jù)軟件要實(shí)現(xiàn)的功能特點(diǎn)對(duì)軟件的人機(jī)交互顯示界面、圖像采集、數(shù)據(jù)分析處理、參數(shù)調(diào)節(jié)控制、文檔管理等功能進(jìn)行程序設(shè)計(jì)及實(shí)現(xiàn)，即實(shí)現(xiàn)干涉圖象的顯示、數(shù)據(jù)采集及處理、膜厚