雙容錯(cuò)磁盤陣列校驗(yàn)散布布局問題的研究.pdf

1、磁盤陣列(RAID)作為一種提高存儲(chǔ)子系統(tǒng)可靠性和性能的技術(shù)，已經(jīng)得到了廣泛的應(yīng)用。特別是近些年來存儲(chǔ)系統(tǒng)網(wǎng)絡(luò)化、規(guī)模化等發(fā)展趨勢(shì)，使多容錯(cuò)編碼變得更加重要。 在陣列系統(tǒng)的一些應(yīng)用領(lǐng)域，比如機(jī)票預(yù)售、銀行自動(dòng)提款機(jī)等在線事務(wù)處理系統(tǒng)，要求提供的數(shù)據(jù)服務(wù)必須是連續(xù)可用的，這對(duì)存儲(chǔ)子系統(tǒng)的性能和可靠性提出了很高的要求。但是像RAID這類的存儲(chǔ)子系統(tǒng)在磁盤出現(xiàn)故障的情況下，性能是非常低的，校驗(yàn)散布布局技術(shù)就是通過校驗(yàn)條紋的散布，將重構(gòu)

2、負(fù)載均勻分布，提高了系統(tǒng)的可用性和可靠性。 目前對(duì)雙容錯(cuò)磁盤陣列校驗(yàn)散布布局的研究還很少，因此本文主要對(duì)RAID6的校驗(yàn)散布數(shù)據(jù)布局進(jìn)行了研究?，F(xiàn)有的一些校驗(yàn)散布布局方法對(duì)參數(shù)都有所限制，所以本文主要采用隨機(jī)排列布局方式，在此基礎(chǔ)上，用現(xiàn)代優(yōu)化算法——模擬退火算法，對(duì)其進(jìn)行優(yōu)化，并編程實(shí)現(xiàn)該算法，詳細(xì)地比較了優(yōu)化后的數(shù)據(jù)布局和最優(yōu)布局的偏差，實(shí)驗(yàn)表明了它非常接近于理論最優(yōu)布局。最后在Disksim上進(jìn)行仿真的實(shí)驗(yàn)，從對(duì)用戶請(qǐng)求的