閃存的低溫下低工作電壓Vcc讀取失效分析.pdf

1、受益于消費電子產(chǎn)品的需求及設備等的普及，F(xiàn)lash閃存已取代RAM(隨機存儲器)成為存儲器家族中最主要的力量，三星、英特爾、Spansion等半導體廠商也成為最大的受益者為了提高競爭力，各大半導體廠商都會盡一切努力進行新技術(shù)的研發(fā)，開發(fā)出高速度、大容量、高可靠性以及低功耗、低成本的產(chǎn)品成為各個廠商的共同目標。而各個廠家在市場的占有程度，決定與各自的綜合勢力的競爭性。如何擁有、保持市場的競爭力是每一個半導體生產(chǎn)廠家所不可避免的問題與挑戰(zhàn)。

2、除了產(chǎn)品的更新?lián)Q代的節(jié)奏加快之外，如何降低成本、減小損耗與不良品也同樣是很重要的一個方面。在款式的新穎、功能的多樣化之外，產(chǎn)品的可靠性與穩(wěn)定性是一般用戶的首選點。所以，閃存的高、低溫時的使用與工作情況同樣是不可避免的面臨考驗與挑戰(zhàn)。 本課題主要針對NOR閃存在低溫下的工作情況進行研究討論，通過對產(chǎn)品在低溫、低工作電壓下閃存進行可靠性測試分析，通過完成失效的產(chǎn)品的實驗數(shù)據(jù)收集分析和處理，發(fā)掘閃存的失效機理，研究并尋求解決閃存的故障