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文檔簡(jiǎn)介
1、這篇論文是基于IPG科技有限公司的連續(xù)光纖激光打標(biāo)機(jī)實(shí)驗(yàn)的基礎(chǔ)上,激光標(biāo)記質(zhì)量的判斷方法將被分析。最后,進(jìn)一步優(yōu)化該類型激光器,得到相應(yīng)得優(yōu)化后的激光參數(shù)。
對(duì)于半導(dǎo)體封裝的表面標(biāo)識(shí),激光打標(biāo)是噴墨標(biāo)記最主要的替代方法。激光打標(biāo)系統(tǒng)已經(jīng)廣泛的被應(yīng)用到IC表面的標(biāo)記工藝中。
在這篇論文中,主要是分析激光的標(biāo)記質(zhì)量。針對(duì)用激光標(biāo)記的字母,主要采用數(shù)字圖像分析的方法。在獲得標(biāo)記的數(shù)字信息后,主要利用統(tǒng)計(jì)學(xué)的相關(guān)分析方法衡量
2、標(biāo)記的清晰程度,并定義相關(guān)的標(biāo)記的清晰標(biāo)準(zhǔn)。在清晰度衡量標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)上,利用灰度相關(guān)的方法優(yōu)化激光打標(biāo)系統(tǒng)。
總的來(lái)說(shuō),主要包括以下幾個(gè)步驟:
①分析激光在IC封裝表面標(biāo)記產(chǎn)生作用的過(guò)程。②通過(guò)CCD照相機(jī)裝置獲得數(shù)字圖像。
?、垲A(yù)處理數(shù)字圖像,獲得學(xué)習(xí)樣本為得到模板做準(zhǔn)備。
?、芡ㄟ^(guò)大量樣本獲得模板,進(jìn)而得到激光標(biāo)記部分的數(shù)字信息。然后,利用統(tǒng)計(jì)學(xué)的方法計(jì)算得到:對(duì)比度、方差、偏度。
?、萦没?/p>
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