高分辨率A-D靜態(tài)參數(shù)測試電路設(shè)計.pdf

1、高分辨率A/D靜態(tài)參數(shù)測試電路設(shè)計是針對工作實際中A/D靜態(tài)參數(shù)測試遇到的困難而提出的。目前，國內(nèi)大多數(shù)A/D靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)是利用傳統(tǒng)的外掛信號源與數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)集成而成。在測試時由外掛信號源提供模擬信號，由數(shù)字系統(tǒng)提供被測A/D的數(shù)字激勵并捕獲被測A/D產(chǎn)生的數(shù)字量，再對數(shù)字量進行算法處理得出測試結(jié)果。在測試高分辨率的A/D時，這就帶來了一些問題：首先測試高分辨率A/D時模擬輸入信號的步進非常小，由于信號源是外掛的，將模擬輸入

2、信號從信號源傳遞給被測A/D的信號線就較長，由信號線產(chǎn)生的噪聲及由線阻產(chǎn)生的電壓損耗很可能比模擬輸入信號的步進還要大，這將極大影響測試。其次模擬信號提供的最大值應(yīng)與被測A/D的參考電壓值相等，但由于這兩個值并不是同源的，必定存在一定的差值，這個差值將對測試帶來誤差。 根據(jù)A/D靜態(tài)參數(shù)的直方圖測試，設(shè)計了一種高分辨率A/D靜態(tài)參數(shù)測試電路，該測試電路可以測量高分辨率A/D靜態(tài)參數(shù)，測試所需的模擬信號，具體由一很高位的D/A產(chǎn)生。

3、由于測試電路尺寸很小，可直接與數(shù)字系統(tǒng)的適配器相連，從而大大縮短了模擬信號到被測A/D的傳輸距離，減小了信號線產(chǎn)生的噪聲及由線阻產(chǎn)生的電壓損耗。由于采用同一可控精密電源對測試電路中的高位D/A和被測A/D提供參考電壓，從而大大減小了由最大模擬輸入信號與被測A/D的參考電壓值不等而引起的誤差。 該測試電路在測試高分辨率A/D靜態(tài)參數(shù)時，無需購置外掛信號源，大大降低了測試高分辨率A/D靜態(tài)參數(shù)的系統(tǒng)構(gòu)成成本，同時解決了傳統(tǒng)測試方法無