版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進(jìn)行舉報或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡介
1、半導(dǎo)體器件的可靠性研究一直是人們關(guān)注的問題,從壽命試驗中獲得可靠性數(shù)據(jù)是目前工業(yè)界研究半導(dǎo)體器件可靠性的主要方法。然而傳統(tǒng)的恒定應(yīng)力加速壽命試驗方法已經(jīng)不能滿足短時間內(nèi)用少量樣品預(yù)測平均壽命的需要。本文采用恒定電應(yīng)力溫度斜坡法對大功率晶體管3DD153進(jìn)行了可靠性評價研究。恒定電應(yīng)力溫度斜坡法屬于序進(jìn)應(yīng)力加速壽命試驗,具有試驗周期短,所需樣品少的優(yōu)點(diǎn)。 首先,對3DD153大功率晶體管進(jìn)行了步進(jìn)應(yīng)力加速壽命試驗,作為序進(jìn)應(yīng)力加速
2、壽命試驗的預(yù)備試驗,為后續(xù)試驗明確了試驗條件。試驗計算出3支樣品的激活能分別為E<,1>=1.25eV,E<,2>=1.38eV,E<,3>=1.28eV,平均壽命分別為t<,1>=1.48×10<'6>,t<,2>=4.62×10<'6>,t<,3>=1.91×10<'6>。 其次,專門定制了序進(jìn)應(yīng)力加速壽命試驗的溫度應(yīng)力控制系統(tǒng)和電應(yīng)力偏置系統(tǒng),以滿足恒定電應(yīng)力溫度斜坡法的試驗要求。溫度應(yīng)力控制系統(tǒng)采用先進(jìn)的溫控設(shè)備歐陸35
3、04溫控儀、周波數(shù)調(diào)功控制模塊、固態(tài)繼電器、熱電偶和溫度補(bǔ)償導(dǎo)線搭建,為試驗提供了精確的序進(jìn)溫度應(yīng)力;電應(yīng)力偏置系統(tǒng)設(shè)計定制了專用的PCB電路板,使樣品工作在恒定的額定工作條件下。 使用專門設(shè)計定制的試驗設(shè)備對3DD153大功率晶體管進(jìn)行了序進(jìn)應(yīng)力加速壽命試驗,得到了在100℃至250℃范圍內(nèi)主要的直流特征參數(shù),即動態(tài)電流增益h<,FE>,飽和壓降V<,CES>、V<,BES>,漏電流I<,CEO>、I<,EBO>、I<,CBO
4、>的退化數(shù)據(jù)。通過對數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理,以漏電流I<,CEO>為失效判據(jù),計算出3支樣品的失效激活能E分別為E<,1>=1.305eV,E<,2>=1.39eV,E<,3>=1.267eV,平均壽命t分別為t<,1>=2.804×10<'6>,t<,2>=5.571×10<'6>,t<,3>=2.065×10<'6>。另外,在理論上分析了樣品的失效機(jī)理,造成高溫下I<,CEO>明顯增大的原因是器件固有缺陷和玷污。 本文說明恒定電應(yīng)
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 大功率開關(guān)晶體管的設(shè)計與制造.pdf
- 大功率晶體管射頻激光電源的研究.pdf
- 大功率LED可靠性預(yù)測機(jī)制研究.pdf
- 大功率晶體管驅(qū)動電路的設(shè)計及其應(yīng)用
- 新型大功率絕緣柵雙極晶體管的設(shè)計與試驗研究.pdf
- 大功率晶體管背面金屬化的研究與優(yōu)化設(shè)計.pdf
- 高可靠性大功率電鍍電源研究.pdf
- GaAs高頻大功率場效應(yīng)晶體管設(shè)計.pdf
- 功率晶體管封裝中銅絲鍵合工藝的可靠性研究.pdf
- LDMOS功率晶體管在大功率雷達(dá)發(fā)射機(jī)中的應(yīng)用.pdf
- 大功率LED可靠性快速篩選技術(shù)的研究.pdf
- 大功率白光LED的可靠性與熱模擬.pdf
- 照明級大功率LED的熱特性與可靠性研究.pdf
- 絕緣柵雙極晶體管的可靠性研究.pdf
- GaN基紫外大功率LED的可靠性研究.pdf
- 基于大功率晶體管背面金屬化濺射工藝的設(shè)計.pdf
- 硅襯底大功率GaN基LED的可靠性研究.pdf
- 大功率發(fā)光二極管壽命測試及可靠性研究.pdf
- DC-DC電源模塊的恒定電應(yīng)力溫度斜坡法試驗研究.pdf
- 大功率白光LED的可靠性研究及失效機(jī)理分析.pdf
評論
0/150
提交評論