PDP高壓驅(qū)動芯片可靠性研究及驗證方法.pdf

1、功率集成電路是當(dāng)今國際上迅速發(fā)展起來的一種新穎的集成電路產(chǎn)品，它是電力電子技術(shù)與微電子技術(shù)相結(jié)合的產(chǎn)物。作為功率集成電路的一個重要分支，高壓集成電路是將高壓器件和低壓控制電路集成在同一芯片上的集成電路，高壓集成電路是在高壓器件、高壓IC工藝以及設(shè)計技術(shù)的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的。XD100和XD170是擁有自主知識產(chǎn)權(quán)的PDP驅(qū)動芯片，對其進(jìn)行可靠性驗證和分析，為將來盡快實現(xiàn)商品化生產(chǎn)鋪平道路。 本文從PDP的顯示原理和驅(qū)動方法入手，詳

2、細(xì)介紹了PDP的整機(jī)電路結(jié)構(gòu)和X電極，Y電極以及A電極的驅(qū)動電路，并詳細(xì)分析了能量復(fù)得電路和功率控制與輸出單元電路的工作原理。在此基礎(chǔ)上，展開了對PDP驅(qū)動芯片XD100和XD170的測試。測試分邏輯功能測試和直流特性測試。針對測試結(jié)果對芯片進(jìn)行了可靠性分析，分析從電遷移現(xiàn)象，閂鎖效應(yīng)，隔離技術(shù)，功率器件的可靠性以及靜電保護(hù)這幾部分展開。其中在功率器件的可靠性分析中給出了VDMOS的安全工作區(qū)，詳細(xì)分析了VDMOS的二次擊穿現(xiàn)象，提出了