基片集成波導(dǎo)的研究與應(yīng)用.pdf

1、基片集成波導(dǎo)（SIW）是最近十年來出現(xiàn)的低插入損耗，高品質(zhì)因數(shù)，高功率容量的一種新型波導(dǎo)器件，基于PCB和LTCC等工藝實(shí)現(xiàn)的各種SIW無源及有源器件兼具有傳統(tǒng)金屬波導(dǎo)和平面電路的優(yōu)點(diǎn)，且生產(chǎn)成本和設(shè)計(jì)復(fù)雜度在微波毫米波頻段具有無可比擬的優(yōu)勢(shì)。
　　 本文的主要內(nèi)容是基于基片集成波導(dǎo)諧振法的復(fù)介電常數(shù)測(cè)量和基于LTCC多層工藝的腔體濾波器的設(shè)計(jì)。
　　 本文第一章介紹了基片集成波導(dǎo)的產(chǎn)生背景以及近年來國(guó)際上關(guān)于基片集成波

2、導(dǎo)的發(fā)展趨勢(shì)與應(yīng)用領(lǐng)域，并對(duì)文章的主要內(nèi)容做以總體敘述。為了解決基片集成波導(dǎo)器件與外圍電路的連接測(cè)試問題，第二章在闡述常用的幾種基片集成波導(dǎo)的轉(zhuǎn)換結(jié)構(gòu)和性能參數(shù)并確定本文使用的耦合方式和饋電結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上，詳細(xì)論述了基于基片集成波導(dǎo)的介電常數(shù)的諧振法測(cè)量。首先介紹了傳統(tǒng)的介電常數(shù)的測(cè)量測(cè)試方法和各自方法的優(yōu)缺點(diǎn)，然后結(jié)合基片集成波導(dǎo)技術(shù)，提出了一種新的采用諧振法的測(cè)試模型，并對(duì)其性能和測(cè)試準(zhǔn)確度進(jìn)行了一系列的仿真實(shí)驗(yàn)。第三章則對(duì)基于基片集