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1、該論文研究了影響近場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)副瓣測(cè)試精度的各種誤差和近場(chǎng)診斷兩方面的很多關(guān)鍵問題,重點(diǎn)研究了近場(chǎng)測(cè)量的誤差分析與補(bǔ)償技術(shù)以及陣列天線的近場(chǎng)診斷.為了得到近場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)副瓣測(cè)試精度,利用近場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)的參數(shù)確定測(cè)試點(diǎn)的位置誤差,分析了這種位置誤差對(duì)遠(yuǎn)場(chǎng)方向圖的影響.根據(jù)掃描面的選取準(zhǔn)則,模擬了掃描面有限引起的截?cái)嗾`差對(duì)遠(yuǎn)場(chǎng)方向圖的影響.根據(jù)HP85301B接收機(jī)的非線性誤差特性研究了接收機(jī)非線性誤差對(duì)遠(yuǎn)場(chǎng)方向圖的影響.根據(jù)Nyqui st定理
2、和掃描點(diǎn)的取樣間隔闡明了混迭誤差對(duì)遠(yuǎn)場(chǎng)方向圖的影響.分析了系統(tǒng)的相位誤差對(duì)遠(yuǎn)場(chǎng)方向圖的影響.根據(jù)測(cè)量的實(shí)際情況模擬了環(huán)境對(duì)遠(yuǎn)場(chǎng)方向圖的影響.利用自比較法測(cè)量并計(jì)算出多次耦合對(duì)遠(yuǎn)場(chǎng)方向圖的影響.改進(jìn)了誤差迭加的傳統(tǒng)方法,給出了總誤差曲線.對(duì)平面近場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)副瓣測(cè)試精度給出了合理的評(píng)估.從被測(cè)天線(AUT)和探頭的耦合方程出發(fā),利用Nyquist定理,推導(dǎo)出了掃描面上近場(chǎng)和波譜函數(shù)之間的矩陣方程.用共軛梯度法(CG)求解這一矩陣方程,得到波
3、譜函數(shù).從而計(jì)算出遠(yuǎn)場(chǎng)方向圖.這種方法,只需要知道測(cè)量點(diǎn)的位置就足夠,并不要求測(cè)量點(diǎn)必須位于一些特定的點(diǎn)上.計(jì)算結(jié)果表明,此方法可以有效地消除常規(guī)平面近場(chǎng)測(cè)量中的位置誤差的影響.提出了陣列天線近場(chǎng)診斷的一種新方法,傳統(tǒng)的方法要想診斷出陣列天線的單元的激勵(lì),必須知道單元的方向圖和探頭的方向圖;該方法基于陣列天線的激勵(lì)、單元方向圖、探頭方向圖和近場(chǎng)測(cè)量數(shù)據(jù)之間的關(guān)系,得到陣列天線的激勵(lì)和近場(chǎng)測(cè)量數(shù)據(jù)之間的耦合方程.利用差值,在不知道單元的方
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