鐵電體的極化疲勞和歷史記憶效應.pdf

1、　　鐵電性通常由電滯回線判定，并且用電滯回線定義的極化參數(shù)來描述。但是電滯回線具有不閉合的特性且包含有各種非鐵電性貢獻，使得結果不夠確切。本文采用微分電滯回線代替?zhèn)鹘y(tǒng)的電滯回線方法來描述鐵電性，并用此來表征鐵電體的極化疲勞效應和歷史記憶效應?！　y量了鋯鈦酸鉛陶瓷(PZT)和鐵酸鉍(BFO)薄膜的微分回線，回線可用若干個高斯函數(shù)很好地擬合。PZT陶瓷的微分回線間接證明其中準同型相界的存在。將微分回線積分可得到電滯回線，實驗證明，PZT

2、的電滯回線是不閉合的。同樣地，微分回線還能證明BFO薄膜中鐵電性和鐵磁性的同時存在?！　∫虼?，論文根據(jù)微分回線定義了一組描述鐵電性的新參數(shù)，稱為鐵電參數(shù)。并測量了PZT陶瓷中這些參數(shù)隨溫度的變化規(guī)律，以及樣品所經歷的熱力學史對這些參數(shù)的影響，從而觀察到鐵電體中存在的歷史記憶效應。　　最后，測量了陶瓷樣品在脈沖反轉信號下的響應特性，從中分出快和慢兩種效應的貢獻。并利用微分譜分析方法研究了極化反轉次數(shù)對樣品鐵電參數(shù)的影響，觀察到由缺陷對