自動(dòng)化快速測(cè)試方案的研究和應(yīng)用.pdf

1、隨著半導(dǎo)體技術(shù)的不斷發(fā)展和電子領(lǐng)域新技術(shù)的不斷出現(xiàn)，大規(guī)模集成電路的集成度不斷提高，功能日趨復(fù)雜，工作頻率不斷提高，在同一片芯片中所集成的晶體管數(shù)目不斷上升，因此在生產(chǎn)過(guò)程中出現(xiàn)缺陷的可能性也不斷增大。為了保證產(chǎn)品的質(zhì)量，測(cè)試在半導(dǎo)體工業(yè)中扮演的角色越發(fā)的重要。同時(shí)也就需要更多的測(cè)試項(xiàng)來(lái)篩選器件和檢測(cè)功能。而這種趨勢(shì)的結(jié)果就是導(dǎo)致測(cè)試程序的大小迅速增加，最終延長(zhǎng)了測(cè)試時(shí)間以及增加了測(cè)試成本。在產(chǎn)品的最終成本中，最普遍的邏輯電路為例，測(cè)試

2、成本已經(jīng)達(dá)到15％-25％。一些門類的產(chǎn)品，測(cè)試成本已經(jīng)成為產(chǎn)品最終成本的主體。因此，測(cè)試成本的降低已經(jīng)非常迫切地放在測(cè)試服務(wù)者面前。
　　 目前有許多測(cè)試方案致力于解決這一問(wèn)題，其中一種方法是基于統(tǒng)計(jì)的手段，減少?zèng)]有影響的測(cè)試項(xiàng)目。而本文就是在這種方法的基礎(chǔ)提出了一種具體的解決方案，該方案運(yùn)用計(jì)算機(jī)技術(shù)，使得整個(gè)系統(tǒng)全面自動(dòng)化，能夠根據(jù)歷史數(shù)據(jù)分析出哪些測(cè)試項(xiàng)很少失敗繼而自動(dòng)跳過(guò)這些測(cè)試項(xiàng)，同時(shí)又符合質(zhì)量規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)，從而達(dá)到減少

3、測(cè)試時(shí)間并降低測(cè)試成本的目的。
　　 本文首先從探討應(yīng)用自動(dòng)化快速測(cè)試方案的需求開始，分析了自動(dòng)化快速測(cè)試方案的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)和工作原理，以及如何對(duì)收集到的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析并保存，分析系統(tǒng)及時(shí)分析測(cè)試數(shù)據(jù)并反饋信息到測(cè)試平臺(tái)，同時(shí)測(cè)試程序也必須進(jìn)行更改以便與分析系統(tǒng)進(jìn)行合作，產(chǎn)品工程師還可以通過(guò)網(wǎng)絡(luò)監(jiān)控手段來(lái)查看歷史數(shù)據(jù)和目前狀態(tài)。本文還論述了統(tǒng)計(jì)方法和質(zhì)量控制方法在系統(tǒng)中的作用以及該方案如何在探針測(cè)試中應(yīng)用。最后本文還討論了目前自動(dòng)