基于靜態(tài)法低飽和蒸氣壓測(cè)試儀的研制.pdf

1、飽和蒸氣壓是物質(zhì)的基礎(chǔ)物性數(shù)據(jù),對(duì)于化工、環(huán)保等諸多領(lǐng)域的理論研究和實(shí)際應(yīng)用具有重要價(jià)值。獲取所需的飽和蒸氣壓數(shù)據(jù)主要有查閱文獻(xiàn)、理論計(jì)算和實(shí)驗(yàn)測(cè)量等幾個(gè)途徑。目前由模型推算的理論尚不成熟,且相關(guān)手冊(cè)及文獻(xiàn)中,物質(zhì)低飽和蒸氣壓數(shù)據(jù)大量缺乏,要得到準(zhǔn)確的低蒸氣壓數(shù)據(jù)必須通過(guò)實(shí)驗(yàn)測(cè)量。
　　本文深入研究蒸氣壓產(chǎn)生機(jī)理及影響因素,重點(diǎn)突破超高真空發(fā)生、高真空靜態(tài)保壓及高精度真空檢測(cè)等關(guān)鍵技術(shù),研制了一種基于直接靜態(tài)法的低飽和蒸氣壓測(cè)試儀

2、,實(shí)現(xiàn)了固體及液體化學(xué)物質(zhì)飽和蒸氣壓數(shù)據(jù)在可控溫度下的精確、安全及自動(dòng)測(cè)量。本文主要研究工作如下:
　　1.基于直接靜態(tài)法的實(shí)驗(yàn)原理,研究影響低飽和蒸氣壓測(cè)量準(zhǔn)確性的因素,結(jié)合國(guó)內(nèi)外現(xiàn)有儀器的不足,分析測(cè)量系統(tǒng)功能需求,確定了儀器能夠達(dá)到的性能指標(biāo),提出總體設(shè)計(jì)方案,并從原理和方法上對(duì)儀器總體方案作可行性分析;
　　2.完成了系統(tǒng)硬件電路設(shè)計(jì)和關(guān)鍵器件選型,詳細(xì)描述了微處理器硬件電路模塊、蒸氣壓測(cè)量模塊以及實(shí)時(shí)通信模塊的設(shè)計(jì)

3、實(shí)現(xiàn)。根據(jù)測(cè)量的精度需求,對(duì)蒸氣壓測(cè)試單元器件進(jìn)行了相關(guān)的選型計(jì)算,為實(shí)現(xiàn)物質(zhì)低飽和蒸氣壓精確測(cè)量提供了良好的硬件平臺(tái);
　　3.采用模塊化設(shè)計(jì)方法,完成了各個(gè)基本功能模塊的代碼編寫(xiě),并對(duì)實(shí)驗(yàn)本體的空氣殘余及泄漏兩項(xiàng)誤差進(jìn)行分析研究,獲取其誤差修正量,在實(shí)驗(yàn)結(jié)果中剔除以提高測(cè)量精度。
　　本文設(shè)計(jì)研制的低飽和蒸氣壓測(cè)試儀經(jīng)大量實(shí)驗(yàn)和現(xiàn)場(chǎng)使用表明:該儀器測(cè)量平均相對(duì)誤差為6.3％,與現(xiàn)有靜態(tài)法測(cè)量結(jié)果相比,精度顯著提高,可為工