版權(quán)說(shuō)明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡(jiǎn)介
1、氧化鋅是一種Ⅱ-Ⅵ族半導(dǎo)體材料,在室溫條件下?lián)碛?.3eV的寬禁帶和較高的激子束縛能(60meV),還擁有較高的穩(wěn)定性。鑒于其出眾的光學(xué)和電學(xué)性質(zhì),氧化鋅和摻雜氧化鋅材料也被廣泛應(yīng)用在紫外探測(cè)器、發(fā)光器件、太陽(yáng)能電池、壓電傳感器、薄膜光波導(dǎo)和透明導(dǎo)電薄膜等多個(gè)領(lǐng)域。特別是ZnO基透明導(dǎo)電薄膜的研究,近期更是引起了廣泛關(guān)注。
本文的主要研究?jī)?nèi)容則是:
1、論述了透明導(dǎo)電薄膜的研究進(jìn)展和發(fā)展前景,對(duì)ZnO基透明導(dǎo)
2、電薄膜的制備方法做了相應(yīng)的介紹,并著重介紹了射頻磁控濺射技術(shù)和一系列研究手段及分析方法。此外,還介紹了相關(guān)實(shí)驗(yàn)設(shè)備,并對(duì)其進(jìn)行一定的改進(jìn)(基底加溫),為提升ZnO透明導(dǎo)電薄膜的相關(guān)性能提供了保障。
2、利用射頻磁控濺射法制備Dy摻雜ZnO薄膜,對(duì)摻雜量之于ZnO薄膜的影響做了相關(guān)的研究。Dy元素的摻入,對(duì)樣品的結(jié)構(gòu)和形貌有較大的影響。Dy元素?fù)诫s前后,薄膜樣品在可見光區(qū)的透過(guò)率均在85%以上,光學(xué)折射率表現(xiàn)出一定變化,Zn
3、O薄膜的光學(xué)帶隙也隨著Dy的摻入而變寬。
3、利用射頻磁控濺射法制備Zr摻雜ZnO薄膜。樣品在可見光區(qū)的透過(guò)率均在90%左右,光學(xué)性能已經(jīng)能滿足工業(yè)應(yīng)用需求。摻雜前后,薄膜光學(xué)折射率有較大的變化。而Zr的摻入也使得ZnO薄膜帶隙展寬,由未摻雜時(shí)的3.25eV增大至最高Zr摻雜時(shí)的3.53eV。在室溫下制備的Zr摻雜ZnO薄膜仍具有較高的電阻率,帶隙展寬說(shuō)明薄膜內(nèi)部有較多的載流子,可能是晶格缺陷和載流子局域化使得樣品不能表現(xiàn)
4、出較高的導(dǎo)電性能。對(duì)所制備薄膜樣品進(jìn)行了退火處理,這對(duì)薄膜表面形貌有較大的影響。經(jīng)由熱處理后,未摻雜ZnO薄膜的光學(xué)透過(guò)率明顯下降,Zr摻雜的樣品透過(guò)率卻仍在90%左右,說(shuō)明Zr元素的摻入增強(qiáng)了ZnO薄膜的熱穩(wěn)定性。在對(duì)樣品進(jìn)行熱處理之后,Zr摻雜樣品也表現(xiàn)出一定的導(dǎo)電性(8.5×10-1Ω·cm)。
4、實(shí)驗(yàn)當(dāng)中,對(duì)基底進(jìn)行加溫,調(diào)節(jié)濺射過(guò)程中關(guān)鍵工藝參數(shù)——氧分壓,并對(duì)所制各Zr摻雜ZnO薄膜進(jìn)行結(jié)構(gòu)與形貌的表征與研究
5、。研究表明,對(duì)基底進(jìn)行300℃加溫,并在氧分壓達(dá)到0.2Pa時(shí),Zr摻雜的ZnO薄膜樣品呈現(xiàn)更高的擇優(yōu)取向,薄膜晶粒尺寸最大,結(jié)晶化程度也要更高?;准訙靥幚碇?,Zr摻雜ZnO薄膜樣品的透過(guò)率同樣在80%以上,薄膜光學(xué)帶隙則隨著氧分壓的升高而不斷變化;基底加溫使得Zr摻雜ZnO薄膜樣品呈現(xiàn)出一定的導(dǎo)電性,氧分壓的變化也導(dǎo)致薄膜樣品具有不同的電阻率,當(dāng)氧分壓升至0.2Pa時(shí),所制備薄膜樣品的電阻率降低至3.5×10-1Ω·cm。
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- ZnO:Al透明導(dǎo)電薄膜的磁控濺射制備及其特性研究.pdf
- 磁控濺射法制備ZnO透明導(dǎo)電薄膜組織與性能研究.pdf
- 自由基輔助磁控濺射制備ZnO:Al透明導(dǎo)電薄膜的研究.pdf
- 磁控濺射制備ZnO-Al透明導(dǎo)電薄膜及其結(jié)構(gòu)、性能與刻蝕性研究.pdf
- 射頻磁控濺射制備ITO薄膜及其透明導(dǎo)電性能的研究.pdf
- 磁控濺射法制備AZO透明導(dǎo)電薄膜及其性能的研究.pdf
- 磁控濺射制備ZnS基透明導(dǎo)電薄膜及其光電性能研究.pdf
- ZnO:Al透明導(dǎo)電薄膜的自由基輔助磁控濺射制備工藝及性能表征.pdf
- 磁控濺射技術(shù)制備Al2O3摻雜ZnO透明導(dǎo)電膜的薄膜性能研究.pdf
- 反應(yīng)磁控濺射法制備高透明導(dǎo)電FTO薄膜的研究.pdf
- 磁控濺射制備透明導(dǎo)電氧化物薄膜一些研究.pdf
- 磁控濺射法制備ZnO薄膜.pdf
- ZnO-Al透明導(dǎo)電薄膜的自由基輔助 磁控濺射制備工藝及性能表征.pdf
- 直流磁控濺射制備ZnO光電薄膜的研究.pdf
- 直流反應(yīng)磁控濺射法制圖新型透明導(dǎo)電ZnO-Mo薄膜的研究.pdf
- 反應(yīng)濺射制備高透明導(dǎo)電ZnO、FZO及AZO薄膜的研究.pdf
- 磁控濺射制備TiAlN和ZnO薄膜的研究.pdf
- 磁控濺射制備sno2f薄膜及其透明導(dǎo)電性能研究
- 磁控濺射法沉積透明導(dǎo)電CdO薄膜的性能優(yōu)化.pdf
- 射頻濺射制備ZnO-Al透明導(dǎo)電薄膜及性能研究.pdf
評(píng)論
0/150
提交評(píng)論