鎂合金組織和織構(gòu)對(duì)其電磁屏蔽效能的影響.pdf

1、本文以AZ31鎂合金為研究對(duì)象，對(duì)其實(shí)施不同條件的塑性變形和熱處理，通過金相觀察、SEM觀察、X射線衍射、電磁屏蔽效能測(cè)試等手段，研究了AZ31鎂合金在不同的塑性變形和熱處理?xiàng)l件下顯微組織和織構(gòu)的變化，分析了組織和織構(gòu)的變化對(duì)其電磁屏蔽效能的影響。
　　 首先對(duì)Ф152mm鎂合金鑄棒進(jìn)行熱擠壓，初次擠壓產(chǎn)生大量變形孿晶；二次擠壓過程中生成的再結(jié)晶新晶粒極細(xì)小，新晶粒平均尺寸為2μm?？棙?gòu)分析表明：熱擠壓過程中形成典型的{01 0

2、}纖維織構(gòu)，初始強(qiáng)點(diǎn)織構(gòu)向{01 0}<10 7>面聚集。二次擠壓后，{01 0}面織構(gòu)強(qiáng)度由1.26增加到13.48。電磁屏蔽效能測(cè)試分析表明：Ф152mm鎂合金鑄棒熱擠壓以后，在頻率為30MHz～1.5GHz范圍內(nèi)的電磁屏蔽效能提高。
　　 在熱擠壓的基礎(chǔ)上，又對(duì)Ф70mm擠壓棒進(jìn)行不同溫度的退火退火40min。在300℃退火40min得到的平均晶粒尺寸最小，350℃退火40min得到細(xì)小的再結(jié)晶等軸組織。退火溫度升高至40

3、0℃以后，再結(jié)晶晶粒長(zhǎng)大速率加快?？棙?gòu)分析表明：退火過程中，{01 0}、{06 1}、{02 1}等面織構(gòu)，其強(qiáng)度值隨退火溫度的變化而變化。比較了熱擠壓變形組織和織構(gòu)的變化對(duì)屏蔽效能的影響，分析表明：退火過程中，在頻率為30MHz～1.5GHz范圍內(nèi)，組織和織構(gòu)的變化對(duì)AZ31鎂合金電磁屏蔽效能的影響為-2dB～4dB。
　　 對(duì)加工成梯形的擠出板進(jìn)行高溫?zé)彳垼玫叫巫兞糠謩e為13％、25％、45％、57％和65％的熱軋板。熱