基于電容檢測(cè)傳感器的電磁干擾研究.pdf

1、隨著現(xiàn)代電子技術(shù)的高速發(fā)展，微電子器件正在向著小型化、高密度、高集成度和系統(tǒng)化不斷地發(fā)展，同時(shí)也使得人們對(duì)電子器件的性能提出越來越高的要求。而電磁干擾（EMI）問題在微電子器件的開發(fā)與設(shè)計(jì)中占有著舉足輕重的地位。甚至在許多情況下，能否有效減小電磁干擾在電子器件中的影響，對(duì)電子產(chǎn)品性能、可靠性、穩(wěn)定性等方面起到至關(guān)重要的作用。
　　本文為基于電容檢測(cè)傳感器的電磁干擾研究，首先介紹了本文的研究背景以及國內(nèi)外對(duì)電子器件中電磁干擾研究的發(fā)

2、展歷程與研究現(xiàn)狀，并且簡(jiǎn)要介紹了電磁干擾研究的基本理論，以及本實(shí)驗(yàn)室正在研發(fā)中的電容檢測(cè)傳感器所采用的基本原理。
　　然后，介紹了普通電子產(chǎn)品中電磁干擾的產(chǎn)生機(jī)理；并以本實(shí)驗(yàn)室正在研發(fā)的電容檢測(cè)傳感器為例，列舉出其中的基本組件：地蓋、通孔與電容檢測(cè)傳感器的芯片，進(jìn)行單獨(dú)的電磁干擾分析；同時(shí)還對(duì)電子器件中的串?dāng)_噪聲與返回電流的不連續(xù)性進(jìn)行了探討。
　　最后圍繞著能有效抑制或隔離電子器件中電磁干擾的三大措施，首先提出一種比較可靠