基于雙魔T和雙晶體檢波器的多狀態(tài)反射計(jì)的研究.pdf

1、山東大學(xué)碩士學(xué)位論文基于雙魔T和雙晶體檢波器的多狀態(tài)反射計(jì)的研究姓名：史曉新申請(qǐng)學(xué)位級(jí)別：碩士專業(yè)：無線電物理指導(dǎo)教師：劉立國20050426山東大學(xué)碩士學(xué)位論文中文摘要微波測(cè)量技術(shù)的發(fā)展與微波儀器的發(fā)展息息相關(guān)，而高精度和快捷的微波測(cè)量往往依賴于精密儀器的研制與開發(fā)六端口測(cè)量技術(shù)，是基于功率計(jì)的一種能夠準(zhǔn)確鍘量微波元件復(fù)反射系數(shù)等微波參數(shù)的有效方法；同時(shí)能夠廣泛地應(yīng)用到諸如微波計(jì)量、安全檢測(cè)和工業(yè)檢測(cè)等許多領(lǐng)域因此，六端口測(cè)量技術(shù)，從

2、提出以來一直受到各國科研人員的關(guān)注，成為最重要的微波測(cè)量工具之一從廣泛的意義上講，基于六端口基本原理，研制雙魔T多狀態(tài)反射計(jì)，并配以計(jì)算機(jī)和接口電路來實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的自動(dòng)采集與處理，能夠?qū)崿F(xiàn)微波元器件的復(fù)反射系數(shù)等相關(guān)微波參數(shù)的自動(dòng)測(cè)量或半自動(dòng)測(cè)量具有一定的使用價(jià)值和實(shí)際意義本文的前三章闡述了六端口測(cè)量技術(shù)的現(xiàn)實(shí)意義、當(dāng)前國內(nèi)外的研究現(xiàn)狀、本文所傲的工作、所用到的數(shù)學(xué)知識(shí)和該技術(shù)的基本原理及概況第四章闡述了晶體檢波器的定標(biāo)方法，在小信號(hào)時(shí)本文

3、對(duì)檢波電壓幅值直接作為功率值、功率衰減定標(biāo)法和直接定標(biāo)法三種方法進(jìn)行實(shí)際測(cè)量和分析比較，認(rèn)為在小信號(hào)時(shí)將檢波電壓幅值直接作為功率值引起的誤差范圍是可接受的，同時(shí)指出了直接定杯法是較理想的適用于晶體檢波器的定標(biāo)方法第五章和第六章闡述了多狀態(tài)反射計(jì)的設(shè)計(jì)方案，系統(tǒng)校準(zhǔn)方法和實(shí)際測(cè)試結(jié)果：對(duì)于多狀態(tài)反射計(jì)的設(shè)計(jì)方案，本文詳細(xì)地闡述了各個(gè)部分的組成及相應(yīng)的電路設(shè)計(jì)在第六章，本文基于六端口理論中的絕對(duì)功率法和相對(duì)功率法演繹出適合多狀態(tài)反射計(jì)的絕對(duì)