2023年全國(guó)碩士研究生考試考研英語(yǔ)一試題真題（含答案詳解+作文范文）_第1頁(yè)
已閱讀1頁(yè)，還剩50頁(yè)未讀， 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說(shuō)明：本文檔由用戶提供并上傳，收益歸屬內(nèi)容提供方，若內(nèi)容存在侵權(quán)，請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡(jiǎn)介

1、電阻抗成像技術(shù)(EIT：Electrical Impedance Tomography)是近年來(lái)迅速發(fā)展起來(lái)的一種新穎的圖像重構(gòu)技術(shù)，用于反映物體內(nèi)部電阻率或電容率的分布及其變化，通過(guò)在物體表面施加電流并進(jìn)行邊界電壓測(cè)量，將測(cè)量數(shù)據(jù)通過(guò)成像軟件重構(gòu)出獲得物體內(nèi)部電阻率或電容率的分布圖像，反映物體內(nèi)部電參數(shù)變化。目前EIT技術(shù)主要應(yīng)用于醫(yī)療診斷。
　　微機(jī)電(MEMS)傳感器是當(dāng)代發(fā)展最為迅速的傳感器之一，基于EIT技術(shù)的傳感器及其

2、信號(hào)處理研究提出了一種新的傳感方法。新的傳感器和傳感方法的研究為MEMS傳感器的發(fā)展與應(yīng)用開拓了廣泛的空間。
　　本文研究目標(biāo)是將EIT技術(shù)應(yīng)用到MEMS傳感之中，課題的主要任務(wù)是完成基于EIT技術(shù)的MEMS傳感器電流激勵(lì)和電壓測(cè)量方式的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)硬件和軟件設(shè)計(jì)。
　　本文首先對(duì)用于工業(yè)控制和醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的EIT系統(tǒng)進(jìn)行結(jié)構(gòu)分析，對(duì)電流激勵(lì)和電壓測(cè)量數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的基本組成進(jìn)行了研究。在分析和研究的基礎(chǔ)上，建立了基于EIT技術(shù)的

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明，都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等，如果需要附件，請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙，網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽，若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間，僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理，對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯，并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容，請(qǐng)與我們聯(lián)系，我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

最新文檔

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論