大功率晶閘管通態(tài)特性研究.pdf_第1頁(yè)
已閱讀1頁(yè),還剩55頁(yè)未讀 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說(shuō)明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡(jiǎn)介

1、電力半導(dǎo)體元件隨著電力電子技術(shù)發(fā)展的需要,不斷改進(jìn)、革新,從SCR、GTO、功率MOSFET、IGBT、MCT到HVIC等;各種元件適合著一定的應(yīng)用領(lǐng)域的需要,性能在不斷的提高和改善;晶閘管也不斷的向更大功率發(fā)展,在整流領(lǐng)域發(fā)揮自己的作用。 在向市場(chǎng)提供大功率晶閘管元件以及相關(guān)技術(shù)服務(wù)的過(guò)程中,元件參數(shù)的一致性對(duì)許多實(shí)際應(yīng)用至關(guān)重要,特別是通態(tài)特性的一致性,通態(tài)特性主要表現(xiàn)為通態(tài)電壓。本文在p-i-n二極管模型的基礎(chǔ)理論上,推導(dǎo)

2、元件體壓降、結(jié)壓降和接觸壓降的相關(guān)理論以及計(jì)算公式,并分析影響通態(tài)電壓的主要因素:注入大小、少子壽命、基區(qū)厚度以及電流密度等。 本文主要在元件長(zhǎng)基區(qū)厚度和少子壽命的比值變化范圍下,分析電導(dǎo)調(diào)制效果對(duì)元件通態(tài)電壓的影響。大注入條件下,載流子散射作用的增強(qiáng)導(dǎo)致體壓降的增加。少子壽命的增加,體壓降會(huì)降低,但是要綜合考慮其他參數(shù);對(duì)于快速元件,少子壽命對(duì)通態(tài)壓降和關(guān)斷時(shí)間的正反影響更要協(xié)調(diào)考慮。基區(qū)厚度增加會(huì)增加通態(tài)壓降,在保證耐壓的前

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論