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文檔簡介
1、華中科技大學碩士學位論文鐵電存儲器薄膜材料的SolGel制備及性能研究姓名:李東申請學位級別:碩士專業(yè):微電子學與固體電子學指導教師:王耘波20040512IIAbstractInthedissertationsbasedontheSolGelfabricationtechnologiesaseriesofBi4Ti3O12(BTO)Pb(ZrxTi1x)O3(PZT)ferroelectricfilmsaredepositedonSi
2、liconwaferstheoptimumfabricationconditionsareinvestigated.ThesamplesareacterizedbysomemicroscopicprobessuchasXRDSEMcombinedwiththemeasurementsofferroelectricpropertiesthecrespondenceofstructuralacteristicsferroelectricpr
3、opertiesarediscussed.Inadditionthetheeticalanalysismathematicalsimulationsofthemodelofferroelectriccapacitsbasedonthehysteresislooparecarriedout.Themainresultsareincludedbelow:TheBTOferroelectricthinfilmswerepreparedonth
4、ePtypesiliconwaferswithvariesannealingtemperaturesrangefrom550to850centidegree.ThetechnologyparametersprocesscontrollingflowofthefabricationftheBTOfilmsareexpledthroughexperimentstheoptimaltechnologyschemeisobtained.Thea
5、nnealingtemperaturedependenceoffeeroelectricpropertiesisdisplayedthroughthecrespondingpolarizationvs.gatevoltage(PV)hysteresis.Theresultshowthattheproperannealtemperatureisintherangeof650700centidegreewithPr=8.1Ccm2Ec=50
6、.4kVcm.IntheprocessofSolGelfabricationtechnologiesaPTseedlayerisgrownbetweenPZTfilmlayerSisubstratesthenthePZTfilmsispreparedtreatedbyRapidThermalAnneal(RTA)techniqueinoxygenicatmosphere.Theexperimentalresultindicatestha
7、tPTseedlayercanameliatethestructureacteristiclowerstheannealingtemperaturewhileshtensthetime.RTAtechnologyishelpfultofmthepervoskitestructurewhichisexhibitedbyXRDpattern.Basingontheexperimentalresultsamodelofferroelectri
8、ccapacitsbasedonhysteresisloopisproposedcombinedwithpolarizationtheyofelectricS.L.Miller’sferroelectriccapacitswitchingthey.Byanalysisingthemicrostructureofferroelectricacrystalcellofferroelectriccompoundisequilentasadip
9、oleAnalysistheswitchingpropertyofdipoleintheelectricfiled.Afmulawasderivedaccdingthestatisticprincipledifferentdistributionfunctionsareusedtofittheprobabilityofdipoleswitching.Ourmodelshowgoodagreementwiththeexperimental
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