基于禁忌遺傳算法的SOC測試結(jié)構(gòu)優(yōu)化研究.pdf

1、隨著集成電路制造水平和設(shè)計(jì)能力的提高,系統(tǒng)芯片(System-On-a-Chip, SOC)作為一種高度集成的系統(tǒng)芯片越來越為人們所接受。同時(shí)由于SOC芯片采用了IP核復(fù)用技術(shù),這就給系統(tǒng)芯片測試帶來了一系列問題。
　　SOC系統(tǒng)芯片測試綜合了測試復(fù)用技術(shù)和可測性設(shè)計(jì)方法,測試復(fù)用技術(shù)的關(guān)鍵是系統(tǒng)芯片SOC測試結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)。本文深入研究了IEEE P1500環(huán)的測試殼和基于測試總線的測試訪問機(jī)制,并分析了它們的優(yōu)化原理。在此基礎(chǔ)上,

2、本文應(yīng)用BFD算法優(yōu)化測試殼,并取得了較好的優(yōu)化結(jié)果。
　　禁忌遺傳算法結(jié)合了遺傳算法的隨機(jī)搜索能力、并行性和禁忌搜索算法的記憶功能,有效地解決了遺傳算法爬山能力差和早熟的問題。本文將禁忌遺傳算法應(yīng)用到SOC測試結(jié)構(gòu)優(yōu)化中,結(jié)合IP核測試調(diào)度特點(diǎn),建立了禁忌遺傳算法的數(shù)學(xué)模型。在對SOC測試結(jié)構(gòu)優(yōu)化過程中,本文通過對群體中每個(gè)染色體的編碼,決定IP核在測試訪問機(jī)制上的分配。通過對禁忌遺傳算法中的參數(shù)的逐步調(diào)整以及對種群的交叉、變異