關于三維圖像測量用投影光的研究——投影模式光的改進.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、本文對在使用投影儀和相機的三維圖像測量中關于投影儀投影模式光進行了研究。首先分析了以前常使用的強度漸變模式光和最優(yōu)化條紋模式光的優(yōu)點以及一些問題點，比如對應困難，條紋使用根數(shù)有限等，然后提出了用兩組最優(yōu)化條紋的方法來增加條紋可使用數(shù)量，同時提高對應準確率。提出的改進后的投影模式光有兩組優(yōu)化條紋，而為了區(qū)別出這兩組條紋，給第二組條紋增加了一些特征。通過計算每根條紋強度的標準偏差辨別出條紋屬于哪一組。最后給出了可行性驗證實驗，即用改進后的條

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