高性能低功耗Sigma-Delta ADC測(cè)試研究.pdf

1、隨著集成電路產(chǎn)業(yè)的飛速發(fā)展，模數(shù)轉(zhuǎn)換器作為模擬信號(hào)和數(shù)字信號(hào)的接口電路也向高性能低功耗的方向發(fā)展。隨之而來(lái)的是對(duì)相關(guān)測(cè)試技術(shù)的要求也越來(lái)越高。目前測(cè)試的成本已經(jīng)占到整個(gè)芯片總成本的30％以上，而且這個(gè)比例還在不斷增長(zhǎng)。集成電路測(cè)試已經(jīng)成為整個(gè)集成電路產(chǎn)業(yè)里不可或缺又極為重要的一個(gè)環(huán)節(jié)。因此，對(duì)測(cè)試?yán)碚摵蜏y(cè)試方法的研究和探索具有十分重要的現(xiàn)實(shí)意義。
　　本文選取的TI公司的20位的Sigma-Delta結(jié)構(gòu)的模數(shù)轉(zhuǎn)換器DDC112U

2、作為高性能低功耗的ADC的樣片。通過(guò)參考并比較了國(guó)內(nèi)外的一些芯片的測(cè)試案例。通過(guò)詳細(xì)研究測(cè)試板所需原件及其匹配關(guān)系來(lái)購(gòu)買(mǎi)元件。然后進(jìn)行測(cè)試板原理圖的繪制，并綜合考慮高性能PCB設(shè)計(jì)制造涉及到的各種因素，最終設(shè)計(jì)并制作了DDC112U測(cè)試板。利用測(cè)試板和實(shí)驗(yàn)室現(xiàn)有的儀器設(shè)備搭建了ADC的測(cè)試系統(tǒng)。通過(guò)制定合理的測(cè)試方案，對(duì)DDC112U重要的技術(shù)參數(shù)進(jìn)行了測(cè)試，從而探索了高性能ADC重要指標(biāo)測(cè)試技術(shù)的有效途徑。本文的工作主要包括兩個(gè)方面：

3、
　　1、首先通過(guò)仔細(xì)研究DDC112U的數(shù)據(jù)手冊(cè)來(lái)全面理解待測(cè)芯片，然后對(duì)DDC112U中核心模塊∑-△ADC的結(jié)構(gòu)和原理進(jìn)行了詳細(xì)分析并分別在理想情況和非理想情況下進(jìn)行了建模和仿真。重點(diǎn)分析了ADC的重要參數(shù)指標(biāo)及對(duì)應(yīng)測(cè)試方法。確定了DDC112U測(cè)試板上的各個(gè)電路模塊的組成，并研究了參考電壓和時(shí)鐘產(chǎn)生電路等主要模塊與待測(cè)芯片及其主要指標(biāo)的關(guān)系，據(jù)此選擇所需元器件并繪制DDC112U測(cè)試板原理圖。
　　2、對(duì)DDC112