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1、自準(zhǔn)直測(cè)角技術(shù)作為一種幾何量測(cè)量方法,是利用光學(xué)自準(zhǔn)直原理來(lái)實(shí)現(xiàn)高精度小角度測(cè)量或可轉(zhuǎn)換為小角度測(cè)量的技術(shù),基于這項(xiàng)技術(shù)的光學(xué)儀器稱之為自準(zhǔn)直儀。自準(zhǔn)直儀按照測(cè)量結(jié)果輸出方式不同,分為光學(xué)自準(zhǔn)直儀和光電自準(zhǔn)直儀兩大類。在自準(zhǔn)直儀系列中,作為新一代的光電自準(zhǔn)直儀已經(jīng)廣泛地用于小角度測(cè)量、高精度角度標(biāo)校、導(dǎo)軌的平直度、精密平臺(tái)的平面度、轉(zhuǎn)臺(tái)位置不確定度等測(cè)量領(lǐng)域。然而現(xiàn)有的光電自準(zhǔn)直儀存在著測(cè)量范圍小、精度低的缺點(diǎn),滿足不了現(xiàn)代社會(huì)的需求。
2、因此增大準(zhǔn)直視場(chǎng)與提高自準(zhǔn)直儀測(cè)量精度是先進(jìn)自準(zhǔn)直儀的主要發(fā)展方向,有著現(xiàn)實(shí)意義。
本文主要致力于提高光電自準(zhǔn)直儀的準(zhǔn)直測(cè)量范圍,以及在大視場(chǎng)、小口徑的光學(xué)系統(tǒng)中如何保證準(zhǔn)直測(cè)量精度。具體的是以大視場(chǎng)光電自準(zhǔn)直儀研制過(guò)程為主線,將光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)作為重點(diǎn),致力于提高有限的口徑條件下光電自準(zhǔn)直儀的準(zhǔn)直測(cè)量視場(chǎng),即準(zhǔn)直測(cè)量范圍。并且在此基礎(chǔ)上,進(jìn)一步探索影響準(zhǔn)直測(cè)量精度的關(guān)鍵技術(shù)(光學(xué)系統(tǒng)的光源設(shè)計(jì)、分光棱鏡設(shè)計(jì)和抗雜散光干擾分析
3、,以及測(cè)量軟件算法等),以及光學(xué)裝調(diào)技術(shù)對(duì)測(cè)量精度的影響,用于提高自準(zhǔn)直儀的大測(cè)量范圍下的測(cè)量精度。目前取得的進(jìn)展主要有:
首先,在調(diào)研國(guó)內(nèi)外相關(guān)產(chǎn)品技術(shù)的光學(xué)結(jié)構(gòu)基礎(chǔ)上,通過(guò)充分論證,選擇并確定大視場(chǎng)光電自準(zhǔn)直儀的光學(xué)結(jié)構(gòu)形式。重點(diǎn)突出了光學(xué)主要參數(shù)的確定依據(jù)和參數(shù)計(jì)算。
其次,將影響大視場(chǎng)準(zhǔn)直測(cè)量精度的因素作為研究的關(guān)鍵技術(shù),在光學(xué)系統(tǒng)的光源設(shè)計(jì)、分光棱鏡設(shè)計(jì)和抗雜散光干擾分析,以及測(cè)量軟件算法等方面進(jìn)行
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