光波導陣列電光掃描系統(tǒng)光利用率的研究.pdf

1、光波導陣列電光掃描器具有掃描范圍大、掃描頻率高、控制電壓低、系統(tǒng)體積小等優(yōu)點，在光學雷達、激光通信、激光制導和激光顯示等軍用與民用領域具有廣闊的應用前景。本文對光波導陣列電光掃描系統(tǒng)的光利用率進行實驗和理論研究。
　　本研究主要內(nèi)容包括：⑴搭建了實驗系統(tǒng)，測量了光波導陣列電光掃描系統(tǒng)光利用率，分析得到了影響其光利用率的主要因素，即：單模光纖-光波導陣列耦合和光波導陣列芯片光利用率。⑵對單模光纖-光波導陣列光耦合系統(tǒng)進行了研究。介紹

2、了光纖耦合系統(tǒng)的光耦合損耗和常見的耦合方式，利用光波導設計分析軟件模擬了四種光耦合模型，結(jié)果表明平端光纖直接耦合和自聚焦透鏡耦合的耦合效率較高。⑶分析了影響光波導陣列芯片光利用率的因素，即：光波導陣列模式泄漏損耗和材料的吸收損耗。模擬了在襯底和光波導陣列之間生長一層低折射率的隔離層來減小模式泄漏損耗，結(jié)果表明采用隔離層的光波導陣列芯片可使泄漏損耗從總輸入功率的38％降低至2%。⑷研究了光波導陣列各部分介質(zhì)的消光系數(shù)與吸收損耗的關系，獲得