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1、西安理工大學(xué)碩士學(xué)位論文功率電源中IGBT失效機(jī)理及其檢測方法的研究姓名:蘇玉淋申請學(xué)位級別:碩士專業(yè):電力電子與電力傳動指導(dǎo)教師:李守智20080501西安理工大學(xué)碩士學(xué)位論文Title:RESEARCHoFIGBTFAILUREMECHANISMANDEXAMINATIoNMETHODINPOWERSOURCEMajor:POWERELECTRONICSANDELECTRICALDRIVEName:YulinSUSupervisor
2、:ProfShouzhiLIAbstractSignature:逝血型Signatu托:噩垃業(yè)絲TheInsulatedGateBipolarTransistorisabletomanagehighpowerwithhighfrequencyThegreatdevelopmentoftheIGBTcharacteristicsintherecentyearshasmadeitadominatingdeviceinthemiddlehig
3、llpowerapplicationfieldHoweverthefailureofIGBTbetweentheusebringhugeinfluenceandloss,throughtheanalysisofthefailuremechanismenhancetheusereliabilityandsystem’SvalidityavoidshavingtheduplicatedproblemsThisarticlehasstudie
4、dtheIGBTcomponentoperationalfactorandtheprinciple,usesthedoublepoletransmissiontheoryassociationtosetupthesolutionelectronandtheholetransmissionequationobtainedthestablestateelectronicandholecurrentexpressionwhicharebett
5、erfittheInsulatedGateBipolarTransistorBaseintheMATLABsoftware,tothesiliconparameterheatconductivitythecarrierconcentrationthecarrierlifetime,theelectronicmobilitytheholemobilityandthebipolardiffusioncoefficienthascarried
6、onthesimulationandqualitativeanalysisIGBTexpirationfactorCarriedonthedynamicmodeldesignandthesimulationundertheMATLABenvironmenttoIGBTandhascarriedonthedetailedanalysistotheIGBTfailuremechanismBuiltthetestedtheelectricci
7、rcuit,hascarriedonthetesttotheIGBTexpirationparameterThisarticlefindingsregardingjudgetheIGBTexpirationaswellastheexpirationdegreecorrectlythenjudgecorrectlyandforecastthatequipment’Spossiblebreakdownwhichhavecertainappl
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